[发明专利]基于量值的检测并对硬盘缺陷区域进行分类的方法

说明书

相关申请的交叉引用

本申请的主题涉及05年12月28日提交的美国专利申请No.11/319,319、08年4月29日提交的美国专利申请No.12/111,255、以及10年2月18日提交的美国专利申请No.12/707,820的主题，通过引用将这些专利申请的教导全部并入在此。

技术领域

本发明涉及硬盘驱动器，并且，更具体地，涉及用于检测硬盘驱动器的硬盘上的缺陷区域，并区分缺陷区域是对应于热粗糙(thermal asperity)或是对应于介质缺陷。

背景技术

这一部分介绍了的多个方面，其可能有助于更好地理解本发明。因此，应依照这一点来阅读这一部分的说明，并且这一部分的说明不应被理解为对什么是现有技术或什么不是现有技术的承认。

理想的硬盘驱动器的硬盘具有完美地平的数据存储表面并且具有完美地均匀的材料组成。然而，实际上，硬盘并不是完美地平坦的，并且具有变化的材料组成。由此原因，以及出于制造上的原因，在硬盘上能够存在不同类型的缺陷。可能难以恢复从缺陷区域读取的数据，并且难度取决于缺陷的类型。在漏失型(drop-out type)缺陷区域中，模拟的读取头输出信号的幅度显著低于对于相对平的且具有相对均匀的材料组成的正常区域的读取头输出信号幅度。如果通过处理读取头输出信号的电子设备将读取头输出信号适当地放大并调节，则可能恢复这种缺陷区域上写入的数据。在本文献中，将这种漏失型缺陷称作“介质缺陷”(MD)。期望确定硬盘上MD区域的位置以使得能够适当地处理从这些MD区域读取的信号来正确地恢复数据。

有时，硬盘区域的形貌(topography)如此大地变化以致当将读取头放置在旋转的硬盘的某些区域之上时，由于盘上存在的粗糙，读取头将与这些区域物理接触。由于从读取头和变化的硬盘之间的物理接触产生的摩擦热，这样的区域被称作热粗糙(TA)区域。期望确定硬盘上的TA区域的位置以使得能够在数据写入和数据读取操作期间避开这些区域以防止损坏读取头。

当前的或更老旧的硬盘驱动器采用MR(磁电阻)读取头或GMR(巨(giant)MR)读取头。对于这些读取头，与MD区域对应的读取头输出信号的幅度显著小于正常区域的信号幅度，同时由于由TA效应导致的基线(baseline)的偏移，与TA区域对应的读取头输出信号的幅度显著大于正常区域信号幅度。如此，通过寻找比正常情况低的信号幅度区域，可以在采用MR/GMR读取头的硬盘驱动器的硬盘上定位MD区域，同时，通过寻找与正常信号幅度区域相比信号基线中的显著增加，可以在硬盘上定位TA区域。

更加新的硬盘驱动器采用TMR(隧穿MR)读取头。对于TMR读取头，由于与MD区域和TA区域两者对应的读取头输出信号的幅度都显著小于正常区域的信号幅度，因此可能误把TA区域当作MD区域。如此，用于采用MR/GMR读取头的硬盘驱动器的检测和分类MD和TA区域的常规的信号处理技术不能用于为采用TMR读取头的硬盘驱动器检测和分类MD和TA区域。

发明内容

在一个实施例中，本发明是一种机器实现的用于对硬盘上的与热粗糙(TA)或介质缺陷(MD)相关联的缺陷区域进行分类的方法。该机器基于(i)与缺陷区域对应的信号值和对应的期望信号值中的一方或两方的量值；以及(ii)所述信号值和所述对应的期望信号值中的一方或两方的符号产生第一量度。该机器基于所述信号值和所述期望信号值中的一方或两方的量值，但不基于所述信号值和所述期望信号值中任一方的符号，产生第二量度。该机器比较所述第一量度和第二量度，并基于该比较确定所述缺陷区域是与TA相关联还是与MD相关联。

附图说明

从下面的详细说明、所附权利要求、以及附图，本发明的其他方面、特征和优点将变得更加明了。在附图中，相同的附图标记标识类似或相同的元件。

图1示出了根据本发明一个实施例的、采用隧穿磁电阻(TMR)读取头的硬盘驱动器的读通道的高层级框图；

图2示出了根据本发明一个可能实现方式的、图1的MD/TA检测和分类(D&C)子系统的高层级框图；以及

图3图示地示出了用于将区域分类为对应于MD或TA的一种可能的实现方式。

具体实施方式

图1示出了根据本发明一个实施例的、用于采用隧穿磁电阻(TMR)读取头的硬盘驱动器的读通道100的高层级框图。读通道100的(常规的)主要信号处理路径从TMR读取头(未示出)接收模拟的读取头输出信号105，并输出二进制(硬判决)输出数据信号145。