[发明专利]校正采样相位的主控制器、半导体装置及其校正方法

权利要求书

1.一种主控制器，在对信号进行采样时对采样时钟进行相位偏移校正，其特征在于，具有：

相位偏移判断部，判断是否需要上述采样时钟的相位偏移，需要相位偏移的情况下，按照偏移方向对计数器进行增/减计数；

限制值储存部，储存上述相位偏移的变动范围限制值；以及

偏移限制判断部，判断上述计数值是否超过了上述相位偏移的限制值，超过的情况下向主机装置通知错误，没有超过的情况下按照上述计数器的计数值，使上述采样时钟的相位偏移。

2.根据权利要求1所述的主控制器，其特征在于，上述相位偏移的变动范围限制值是滞后方向的最大偏移幅度和超前方向的最大偏移幅度。

3.根据权利要求1所述的主控制器，其特征在于，上述相位偏移判断部使用相位彼此不同的多个时钟信号对接收数据进行采样，根据获得的数据值判断上述采样时钟的相位偏移。

4.根据权利要求1所述的主控制器，其特征在于，上述信号是从存储器装置接收的，当上述存储器装置开始数据传输时，从上述存储器装置中读取调谐模式进行调谐，判断上述采样时钟的最佳相位，将该最佳相位赋予给上述多个时钟信号内的中央的时钟。

5.根据权利要求4所述的主控制器，其特征在于，上述存储器装置是SD卡。

6.一种半导体装置，具有在对信号进行采样时对采样时钟进行相位偏移校正的主控制器，其特征在于，该主控制器具有：

相位偏移判断部，判断是否需要上述采样时钟的相位偏移，需要相位偏移的情况下，按照偏移方向对计数器进行增/减计数；

限制值储存部，储存上述相位偏移的变动范围限制值；以及

偏移限制判断部，判断上述计数值是否超过了上述相位偏移的限制值，超过的情况下向主机装置通知错误，没有超过的情况下按照上述计数器的计数值，使上述采样时钟的相位偏移。

7.根据权利要求6所述的半导体装置，其特征在于，上述相位偏移的变动范围限制值是滞后方向的最大偏移幅度和超前方向的最大偏移幅度。

8.根据权利要求6所述的半导体装置，其特征在于，上述相位偏移判断部使用相位彼此不同的多个时钟信号对接收数据进行采样，根据获得的数据值判断上述采样时钟的相位偏移。

9.根据权利要求6所述的半导体装置，其特征在于，上述信号是从存储器装置接收的，当上述存储器装置开始数据传输时，从上述存储器装置中读取调谐模式进行调谐，判断上述采样时钟的最佳相位，将该最佳相位赋予给上述多个时钟信号内的中央的时钟。

10.根据权利要求9所述的半导体装置，其特征在于，上述存储器装置是SD卡。

11.根据权利要求9所述的半导体装置，其特征在于，上述存储器装置与上述主控制器构成于1个芯片上。

12.一种在对信号进行采样时对采样时钟进行相位偏移校正的方法，其特征在于，判断是否需要上述采样时钟的相位偏移，需要相位偏移的情况下，按照偏移方向对计数器进行增/减计数；

判断上述计数值是否超过了上述相位偏移的变动范围限制值，超过的情况下能够通知错误，没有超过的情况下按照上述计数器的计数值，使上述采样时钟的相位偏移。

13.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，上述相位偏移的变动范围限制值是滞后方向的最大偏移幅度和超前方向的最大偏移幅度。

14.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，上述相位偏移的判断中使用相位彼此不同的多个时钟信号，对接收数据进行采样，根据所获得的数据值判断上述采样时钟的相位偏移。

15.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，信号是从存储器装置接收的，当上述存储器装置开始数据传输时，从上述存储器装置中读取调谐模式进行调谐，判断上述采样时钟的最佳相位，将该最佳相位赋予给上述多个时钟信号内的中央的时钟。

16.根据权利要求15所述的方法，其特征在于，上述存储器装置是SD卡。