[发明专利]校正采样相位的主控制器、半导体装置及其校正方法

说明书

相关申请的交叉引用

本申请基于并要求2010年8月31日提出的在先日本专利申请No.2010-194929的优先权，这里通过参考来合并其全部内容。

技术领域

如下说明的实施例涉及进行对存储器装置输入数据或从存储器装置输输出数据的处理，检测读取从存储器装置接收的数据时的温度漂移误差，校正采样相位的主控制器、半导体装置及其校正方法。

背景技术

作为用于数字照相机、偏移电话等便携设备和PC、电视机等家电设备中小型且便于携带的非易失性存储器，SD卡正被广泛普及。SD卡与主机装置(CPU)之间的数据和指令传输是通过主控制器控制的。

最近的SD卡相比以往而言，传输速度更为高速，因而以迄今为止固定的数据接收时的延迟量，无法适当进行数据采样，需要设定采样位置的相位。

进行采样时钟的相位设定时，通常在实际传输数据之前进行调谐，判断最佳相位。调谐指的是在SD卡初始化程序中确定最佳采样位置的工作。即，主机装置逐渐略微改变采样时钟的偏移量，反复从SD卡读取调谐模式进行采样。该调谐模式是已知的数据模式，同一个模式预先储存于SD卡和主控制器双方中。主机装置判断通过该采样获得的数据与主控制器所具有的调谐模式是否一致，将能最为稳定地获得正确数据的偏移量确定为最佳采样位置。

但是，当传输过程中由于温度等而使得相位偏移的情况下，由于无法检测到该偏移，因此就需要在每个较短的传输间隔重新进行调谐。

对于上述问题，已提出了通过对所接收的数据进行采样并检测相位偏移，获得对于重新调谐的判断信息，仅在引起了相位偏移的情况下重新进行调谐的主控制器。该主控制器根据相位偏移自动校正采样位置。由此就能够应对相位偏移，然而其存在着无法检测超过了相位偏移的容许变动范围的相位偏移错误这样的问题。

发明内容

本发明欲解决的课题在于提供一种能够检测超过了相位偏移的容许变动范围的相位偏移错误并校正采样相位的主控制器、半导体装置及其校正方法。

实施方式中的主控制器在对信号进行采样时对采样时钟进行相位偏移校正，其具有：相位偏移判断部，判断是否需要上述采样时钟的相位偏移，需要相位偏移的情况下，按照偏移方向对计数器进行增/减计数；限制值储存部，储存上述相位偏移的变动范围限制值；以及偏移限制判断部，判断上述计数值是否超过了上述相位偏移的限制值，超过的情况下向主机装置通知错误，没有超过的情况下按照上述计数器的计数值，使上述采样时钟的相位偏移。

另一个实施方式的半导体装置具有在对信号进行采样时对采样时钟进行相位偏移校正的主控制器，其中，该主控制器具有：相位偏移判断部，判断是否需要上述采样时钟的相位偏移，需要相位偏移的情况下，按照偏移方向对计数器进行增/减计数；限制值储存部，储存上述相位偏移的变动范围限制值；以及偏移限制判断部，判断上述计数值是否超过了上述相位偏移的限制值，超过的情况下向主机装置通知错误，没有超过的情况下按照上述计数器的计数值，使上述采样时钟的相位偏移。

又一个实施方式中的在对信号进行采样时对采样时钟进行相位偏移校正的方法，判断是否需要上述采样时钟的相位偏移，需要相位偏移的情况下，按照偏移方向对计数器进行增/减计数；判断上述计数值是否超过了上述相位偏移的变动范围限制值，超过的情况下通知错误，没有超过的情况下按照上述计数器的计数值，使上述采样时钟的相位偏移。

根据上述构成的主控制器、半导体装置及其校正方法，能够检测超过允许变动范围的相位偏移错误。

附图说明

图1是表示应用了实施例的信息处理系统的主要部分构成的框图。

图2是表示采样信号校正电路15的构成的框图。

图3是表示从SD卡接收的数据的有效区域的变动的图。

图4是表示采样相位校正的工作概要的图。

图5是表示更新相位偏移计数器的值的具体例子的流程图。

图6是表示第二实施例的信息处理系统的主要部分构成的框图。

图7是表示第三实施例的信息处理系统的主要部分构成的实施例的框图。

具体实施方式