[发明专利]一种太赫兹波成像装置

说明书

技术领域

本发明属于太赫兹波成像技术领域，尤其涉及一种太赫兹波成像装置。

背景技术

太赫兹波(THz波)是指频率在0.1THz到10THz(波长30um-3mm)范围内的电磁波，该波段介于微波和红外光之间，处于电子学与光子学的交叉区域的波段。与传统光源相比，太赫兹波具有很多独特的性质，如太赫兹波的光子能量较低，穿透非极性物质及介电材料时的损耗小，很多大分子在太赫兹波段有“指纹谱”，故可以应用于安全检查及质量监控技术领域。

然而现有技术提供的太赫兹波成像装置在实现对待检测物品的成像过程中，并未考虑待检测物品与检测人员之间的距离要求，适用范围窄，例如，在应用太赫兹波成像装置对可疑物品进行安全检查时，往往需要检测人员进行远距离(即安全距离)检测，而现有技术提供的太赫兹波成像装置不能实现对可疑物品的远距离检测。

发明内容

本发明的目的在于提供一种太赫兹波成像装置，旨在解决现有技术提供的太赫兹波成像装置未考虑待检测物品与检测人员之间的距离要求，不能实现远距离检测，适用范围窄的问题。

本发明是这样实现的，一种太赫兹波成像装置，所述装置包括放置待检测物品的样品台、用于发出太赫兹光的太赫兹波辐射源，所述装置还包括：

透镜，用于将经所述透镜一侧入射的所述太赫兹光聚焦到所述透镜另一侧的焦点；

第一离轴抛物面镜，用于将所述透镜聚焦后的所述太赫兹光转换成平行太赫兹光；

反射镜，用于对所述第一离轴抛物面镜转换后的平行太赫兹光进行反射；

第二离轴抛物面镜，用于将所述反射镜反射后的平行太赫兹光聚焦到所述样品台上的所述待检测物品；

置于所述太赫兹光经所述待检测物品的出射光路上的斩波器，用于对经所述待检测物品出射、携带有所述待检测物品信息的太赫兹光进行斩波调制处理；

探测器，用于感应经所述斩波器斩波调制处理后的太赫兹光的各探测点的能量变化，并根据所述各探测点的能量变化产生相应的多个电信号；

信号处理单元，用于将所述探测器产生的所述多个电信号进行放大处理以及模/数转换处理，得到多个结果值；

显示端，用于根据所述多个结果值，利用扫描成像软件对所述待检测物品进行成像并显示。

由于本发明提供的太赫兹波成像装置利用了第一离轴抛物面镜和第二离轴抛物面镜进行平行光与聚焦光的转换，并在第一离轴抛物面镜和第二离轴抛物面镜之间设置了反射镜，增加了太赫兹波辐射源与待检测物品之间的距离，可以实现远距离检测，特别适用于应用太赫兹波成像装置对可疑物品进行安全检查的场合。

附图说明

图1是本发明实施例提供的太赫兹波成像装置的结构原理图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明实施例提供的太赫兹波成像装置利用了第一离轴抛物面镜和第二离轴抛物面镜进行平行光与聚焦光的转换，并在第一离轴抛物面镜和第二离轴抛物面镜之间设置反射镜。

图1示出了本发明实施例提供的太赫兹波成像装置的结构原理，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分。

本发明实施例提供的太赫兹波成像装置包括：放置待检测物品的样品台7；太赫兹波辐射源1，用于发出太赫兹光；透镜2，用于将经透镜2一侧入射的太赫兹波辐射源1发出的太赫兹光聚焦到透镜2另一侧的焦点；第一离轴抛物面镜3，用于将透镜2聚焦后的太赫兹光转换成平行太赫兹光；第一反射镜4以及第二反射镜5，第一反射镜4用于将第一离轴抛物面镜3转换后的平行太赫兹光反射至第二反射镜5，第二反射镜5用于将第一反射镜4反射后的平行太赫兹光进行反射；第二离轴抛物面镜6，用于将第二反射镜5反射后的平行太赫兹光聚焦到样品台7上的待检测物品；置于太赫兹光经待检测物品的出射光路上的斩波器8，用于对经待检测物品出射、携带有待检测物品信息的太赫兹光进行斩波调制处理；探测器9，用于感应经斩波器8斩波调制处理后的太赫兹光的各探测点的能量变化，并根据该各探测点的能量变化产生相应的多个电信号，该各探测点的能量变化可以体现为各探测点的温度变化；信号处理单元10，用于将探测器9产生的多个电信号进行放大处理以及模/数转换处理，得到多个结果值；显示端11，用于根据信号处理单元10得到的多个结果值，利用扫描成像软件对待检测物品进行成像并显示。