[发明专利]一种集成电路的测试方法及一种集成电路

权利要求书

1.一种集成电路的测试方法，采用基于扫描的测试方法，其特征在于，包括：

测试开始时，扫描使能信号有效，扫描触发器连接为链状而构成移位寄存器，将一组测试输入矢量通过所述移位寄存器提供给集成电路；

当该组测试输入矢量提供完毕时所述扫描使能信号变为无效，使所述集成电路按预定条件循环工作多个周期，直至满足预定循环终止条件时，循环终止；

当循环终止时，所述扫描使能信号变为有效，将所述集成电路循环终止时的输出作为测试输出矢量通过所述移位寄存器移出。

2.如权利要求1所述的集成电路的测试方法，其特征在于，所述使集成电路按预定条件循环工作多个周期具体包括：

根据所述测试输入矢量得到第一个周期的输出矢量，所述第一个周期的输出矢量包括第一个周期的伪输出值；

将测试输入矢量的原始输入与所述第一个周期的伪输出值组成新的矢量作为第二个周期的输入矢量，根据所述第二个周期的输入矢量得到第二个周期的输出矢量，所述第二个周期的输出矢量包括第二个周期的伪输出值；

将所述原始输入与所述第二个周期的伪输出值组成新的矢量作为第三个周期的输入矢量，循环操作直至满足预定循环终止条件。

3.如权利要求2所述的集成电路的测试方法，其特征在于，所述预定循环终止条件包括：某个周期的输入矢量等于该周期的输出矢量。

4.如权利要求2所述的集成电路的测试方法，其特征在于，所述预定循环终止条件包括：某个周期的输入矢量等于该周期前某个周期的输入矢量。

5.如权利要求2所述的集成电路的测试方法，其特征在于，所述预定循环终止条件包括：所述集成电路循环预定次数后没有检测到新的故障。

6.一种集成电路，其特征在于，包括：

至少一个用于完成至少一种算法功能的逻辑电路，所述逻辑电路在扫描使能信号由有效变为无效时，按预定条件循环工作多个周期；

对应各逻辑电路配置的扫描触发器电路，所述扫描触发器电路在扫描使能信号为有效时构成移位寄存器，并将一组测试输入矢量提供给所述逻辑电路，在所述扫描使能信号由有效变为无效时，获取所述逻辑电路每次循环后的输出矢量，并将本次循环后的输出矢量变换后作为逻辑电路的输入矢量以供逻辑电路下一循环的测试；

比较模块，用于判断逻辑电路每次循环后是否满足预定循环终止条件，若是则控制逻辑电路终止循环。

7.如权利要求6所述的集成电路，其特征在于，所述按预定条件循环工作多个周期具体包括：根据所述测试输入矢量得到第一个周期的输出矢量，所述第一个周期的输出矢量包括第一个周期的伪输出值；将测试输入矢量的原始输入与所述第一个周期的伪输出值组成新的矢量作为第二个周期的输入矢量，根据所述第二个周期的输入矢量得到第二个周期的输出矢量，所述第二个周期的输出矢量包括第二个周期的伪输出值；将所述原始输入与所述第二个周期的伪输出值组成新的矢量作为第三个周期的输入矢量，循环操作直至满足预定循环终止条件。

8.如权利要求6或7所述的集成电路，其特征在于，所述比较模块用于比较某个周期的输入矢量与该周期的输出矢量，若相同则认为满足预定循环终止条件。

9.如权利要求6或7所述的集成电路，其特征在于，所述比较模块用于比较某个周期的输入矢量与该周期之前某个周期的输入矢量，若相同则认为满足预定循环终止条件。

10.如权利要求7所述的集成电路，其特征在于，所述比较模块用于检测所述逻辑电路循环预定次数后是否检测到新的故障，若没有则认为满足预定循环终止条件。