[发明专利]一种多晶硅硅芯腐蚀的新方法有效

专利信息
申请号: 201110084413.9 申请日: 2011-04-06
公开(公告)号: CN102199773A 公开(公告)日: 2011-09-28
发明(设计)人: 刘岗;周大荣;孙建荣;蒋敏;孙兵;胡成发 申请(专利权)人: 连云港中彩科技有限公司
主分类号: C23F1/40 分类号: C23F1/40;C30B33/10
代理公司: 南京众联专利代理有限公司 32206 代理人: 王彦明
地址: 222000 江苏省连*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 多晶 硅硅芯 腐蚀 新方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种多晶硅生产技术,特别是一种多晶硅硅芯腐蚀的新方法。

背景技术

改良西门子法生产多晶硅中,还原炉内通过气相沉积制备棒状多晶硅所用的多晶硅硅芯必须均相、洁净无杂质,而通过硅芯炉拉制得的硅芯表面有较多的硅颗粒、金属氧化物及SiO2等分散相及杂质,必须通过腐蚀手段除去这些杂质,以利于在还原炉内生长多晶硅硅棒,传统的方法是用浓硝酸和氢氟酸体积比3:1~4:1的混合酸对其进行腐蚀处理。腐蚀处理在通风柜内进行,腐蚀过程中产生的挥发成分含有HF,NOx等有害气体,同时产生含HNO3,HF,H2SiF6等的废液,主反应方程式如下:

4HNO3+Si+6HF=H2SiF6+4NO2↑+4H2O

SiO2+6HF=H2SiF6+2H2O

该硅芯腐蚀方法使用了大量的有毒、易挥发浓氢氟酸和浓硝酸,有很大的缺点,一方面,污染环境、中和处理废气、废液麻烦以及易造成人身伤害;另一方面,这两种酸价格都较高,导致腐蚀成本较高;第三,由于该腐蚀液对硅芯的腐蚀是均匀腐蚀,表面是均匀光滑的,相对于表面存在微小凹凸表面的硅芯来讲,其比表面积更小,硅在硅芯表面沉积时,比表面积越大,活性中心越多,沉积速率越大,因此酸腐蚀得到的硅芯对初期硅沉积不利。

发明内容

本发明要解决的技术问题是针对现有技术的不足,提出了一种具有环境污染小、腐蚀成本低、人身无伤害及腐蚀效果好的多晶硅硅芯腐蚀的新方法。

本发明要解决的技术问题是通过以下技术方案来实现的,一种多晶硅硅芯腐蚀的新方法,其特点是:

①将氢氧化钠20~40%、氟化钠4~6%、次氯酸钠0.3~0.7%和水50~70%常温充分溶解制成腐蚀液,其中比例为质量百分比;

②将腐蚀液倒入腐蚀槽内,加热至50~70℃,放入硅芯,保持温度下腐蚀3~5分钟;

③取出硅芯,放入超纯水清洗槽内清洗5~7遍;

④取出清洗槽内的硅芯放入超纯水加热槽内,升高温度至水沸腾,保持沸腾状态煮3~5分钟;

⑤从加热槽内取出硅芯,放入烘箱内,保持温度80~90℃,烘干1~2小时后降温至室温取出即可。

本发明要解决的技术问题还可以通过以下技术方案来进一步实现,步骤①中,腐蚀液的配比为氢氧化钠30%、氟化钠5%和次氯酸钠0.5%、水64.5%。

本发明要解决的技术问题还可以通过以下技术方案来进一步实现,步骤②中,将腐蚀液倒入腐蚀槽内,加热至55℃,放入硅芯,腐蚀3~5分钟。

本发明要解决的技术问题还可以通过以下技术方案来进一步实现,步骤③中,硅芯在清洗槽内清洗7遍。

本发明要解决的技术问题还可以通过以下技术方案来进一步实现,步骤④中,将硅芯在超纯水中煮沸5分钟。

本发明要解决的技术问题还可以通过以下技术方案来进一步实现,步骤⑤中,将硅芯在烘箱内保持温度为80℃,烘干时间为2小时,降温至室温取出。

本发明与现有技术相比,采用了一种新的腐蚀液对多晶硅硅芯进行腐蚀处理,所得硅芯的比较面积达到40~80m-1,大大高于混酸腐蚀的比表面积,本发明取代传统使用的氢氟酸和硝酸混酸腐蚀液,提供了一个安全无污染、高效低成本的硅芯腐蚀新工艺;具有环境污染小、腐蚀成本低、人身无伤害及腐蚀效果好的特点。

具体实施方式

一种多晶硅硅芯腐蚀的新方法,使用的硅芯规格为长度2m~2.5m,直径8~12mm,

①将氢氧化钠:20~40%、氟化钠4~6%、次氯酸钠0.3~0.7%和水50~70%(其中水为超纯水,其余均为优级纯,比例为质量百分比)常温充分溶解制成腐蚀溶液;

②将腐蚀液倒入腐蚀槽内,加热至50~70℃,放入硅芯(以硅芯淹没于腐蚀液中为准),保持温度下腐蚀3~5分钟;

③取出硅芯,放入超纯水清洗槽内清洗5~7遍;

④取出清洗槽内的硅芯放入超纯水加热槽内(硅芯在液面以下),升高温度至水沸腾,保持沸腾状态煮3~5分钟;

⑤从加热槽内取出硅芯,放入烘箱内,保持温度80~90℃,烘干1~2小时后降温至室温取出即可使用。

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