[发明专利]光学式位置检测装置、机械手及机械臂有效
申请号: | 201110084774.3 | 申请日: | 2011-04-01 |
公开(公告)号: | CN102252607A | 公开(公告)日: | 2011-11-23 |
发明(设计)人: | 清濑摄内 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;B25J19/02 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李伟;王轶 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 位置 检测 装置 机械手 机械 | ||
1.一种光学式位置检测装置,其特征在于,具备:
多个光源部,其射出检测光;
光检测部,其接受由位于所述检测光的出射空间的对象物体所反射的所述检测光;
光源驱动部,其在第一期间使所述多个光源部当中的一部分光源部点亮,在第二期间使与在所述第一期间点亮的所述光源部不同的光源部点亮;和
位置检测部,其根据所述光检测部在所述第一期间和所述第二期间的受光结果,对所述对象物体的位置进行检测;
所述光源部具备在与所述检测光的光轴的方向交叉的方向上排列的多个发光元件。
2.如权利要求1所述的光学式位置检测装置,其特征在于,
所述光源驱动部执行使所述多个发光元件当中的一部分发光元件点亮的第一模式、和使所述多个发光元件当中的至少与所述第一模式不同的发光元件点亮的第二模式。
3.如权利要求2所述的光学式位置检测装置,其特征在于,
所述光源驱动部在所述第一模式中使所述多个发光元件当中的一部分发光元件点亮,在所述第二模式中使在所述第一模式中点亮的发光元件及与所述第一模式不同的发光元件同时点亮,使所述出射空间向排列有所述发光元件的方向扩展。
4.如权利要求3所述的光学式位置检测装置,其特征在于,
所述光源驱动部在所述第一模式中使所述多个发光元件当中的1个发光元件点亮,在所述第二模式中使包括在所述第一模式中点亮的发光元件的2个以上发光元件同时点亮。
5.如权利要求3所述的光学式位置检测装置,其特征在于,
所述多个光源部均在同一方向上射出所述检测光。
6.如权利要求5所述的光学式位置检测装置,其特征在于,
当从所述出射空间观看时,
所述光检测部配置在由所述多个光源部包围的位置,且在所述光源部中,所述多个发光元件从与所述光检测部靠近的位置朝向远离的方向直线性排列,
在所述第一模式中,所述多个发光元件当中与在该第一模式中不点亮而在所述第二模式中点亮的发光元件相比更靠近所述光检测部的位置的 发光元件点亮。
7.如权利要求5所述的光学式位置检测装置,其特征在于,
当从所述检测光的射出侧观看时,
在所述光源部中,所述多个发光元件从所述出射空间的内侧向外侧直线性排列,
在所述第一模式中,所述多个发光元件当中与在该第一模式中不点亮而在所述第二模式中点亮的发光元件相比配置在所述出射空间的内侧的发光元件点亮。
8.如权利要求3所述的光学式位置检测装置,其特征在于,
在所述第二模式中点亮的所述发光元件当中、在所述第一模式中处于熄灭状态的发光元件,与在所述第一模式中处于点亮状态的发光元件相比,所述检测光的射出强度大。
9.如权利要求2所述的光学式位置检测装置,其特征在于,
所述多个光源部中含有在夹持所述出射空间的两侧向互为反向的方向射出所述检测光的光源部。
10.如权利要求1所述的光学式位置检测装置,其特征在于,
所述位置检测部根据使所述多个光源部当中的一部分光源和其他一部分光源基于所述光检测部的受光结果进行了差动后的结果,对所述对象物体的坐标位置进行检测。
11.如权利要求1所述的光学式位置检测装置,其特征在于,
具备射出不经由所述出射空间而入射到所述光检测部的参照光的参照用光源部,
所述位置检测部根据使所述多个光源部当中的一部分光源部和所述参照用光源部变更组合地基于所述光检测部的受光结果进行差动而得到的结果,对所述对象物体的坐标进行检测。
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