[发明专利]光学式位置检测装置、机械手及机械臂

说明书

技术领域

本发明涉及以光学方式检测对象物体的光学式位置检测装置。

背景技术

作为以光学方式检测对象物体的光学式位置检测装置，例如提出了一种从2个检测用光源部隔着透光部件朝向对象物体射出检测光，被对象物体反射后的检测光透过透光部件而由光检测器加以检测的装置。在该光学式位置检测装置中，例如若根据光检测器的检测结果使2个检测用光源部差动，则可知2个检测用光源部中的一个检测用光源部与对象物体的距离、和另一个检测用光源部与对象物体的距离之比。因此，可以检测出对象物体的位置(参考专利文献1)。

专利文献1：日本特表2003-534554号公报

但是，在专利文献1所记载的构成中，由于检测光的出射空间是固定的，所以存在以下的问题点。首先，由于即便在预先知道对象物体存在于狭小范围的情况下，也需要在较宽的范围内具有一定以上的照度来射出检测光，所以存在消耗无益的电力等问题点。而且，由于检测光的出射空间是固定的，所以即便在仅检测特定空间内的对象物体的情况下，也存在从整个出射空间检测对象物体的问题点。

发明内容

鉴于以上的问题点，本发明的课题在于，提供一种能使检测光的出射空间的尺寸可变的光学式位置检测装置。

为了解决上述课题，本发明提供一种以光学方式检测对象物体的位置的光学式位置检测装置，其特征在于，具备：具有互不相同的光轴并射出检测光的多个检测用光源部、接受由位于上述检测光的出射空间的上述对象物体所反射的上述检测光的光检测器、使上述多个检测用光源部依次点亮的光源驱动部、和根据上述多个检测用光源部依次点亮时的上述光检测器的受光结果而对上述对象物体的位置进行检测的位置检测部，上述检测用光源部具备中心光轴相互并列的多个发光元件。

在本发明中，光源驱动部使多个检测用光源部依次点亮，在此期间，光检测器接受由对象物体反射的检测光。因此，如果直接使用光检测器的检测结果或使用借助光检测器使2个检测用光源部差动时的驱动电流等，则位置检测部可以检测出对象物体的位置。检测用光源部具备中心光轴相互并列的多个发光元件，通过使几个发光元件或任意一个发光元件点亮，可以变更检测光的出射空间的大小。因此，较宽设定对象物体的检测空间的情况下，例如会增加点亮的发光元件的数量，扩大出射空间，另一方面，在较窄设定对象物体的检测空间的情况下，可以减少点亮的发光元件的数量，缩小出射空间。从而，由于不会无益消耗使光源点亮的电力，所以可以实现消耗电力的削减。另外，由于检测光的出射空间可变，所以可以仅检测出特定的狭小空间内的对象物体。

在本发明中，上述光源驱动部执行使上述多个发光元件中的一部分发光元件点亮的第一模式、和使上述多个发光元件中的至少与上述第一模式不同的发光元件点亮的第二模式。

在本发明中，优选上述光源驱动部在上述第一模式下将上述多个发光元件中的一部分发光元件点亮，在上述第二模式下将在上述第一模式中点亮的发光元件及与上述第一模式不同的发光元件同时点亮，使上述出射空间向排列有上述发光元件的中心光轴的方向扩展。根据该构成，由于可以在第一模式中减少点亮的发光元件，缩窄出射空间，所以可以削减使光源点亮所消耗的电力。

在本发明中，上述光源驱动部在上述第一模式中使上述多个发光元件中的1个发光元件点亮，在上述第二模式中使包括在上述第一模式中点亮的发光元件的2个以上发光元件同时点亮。通过该构成，由于可以将点亮的发光元件减少到1个而缩窄出射空间，所以可以削减使光源点亮所消耗的电力。另外，由于可以检测光的出射空间减小到最小限度，所以也可以仅检测出特定的狭小空间内的对象物体。

本发明可以用于上述多个检测用光源部均向同一方向射出上述检测光的第一类型光学式位置检测装置。

在本发明中，可以采用如下构成，即当从上述出射空间观看时，上述光检测器被配置在由上述多个检测用光源部包围的位置，且在上述检测用光源部中，上述多个发光元件从与上述光检测器靠近的位置朝向远离的方向直线性排列，在上述第一模式中，上述多个发光元件中与在该第一模式中不点亮而在上述第二模式中点亮的发光元件相比更靠近上述光检测部的位置的发光元件点亮。

在本发明中，可以采用如下构成，即当从上述检测光的射出侧观看时，在上述检测用光源部中，上述多个发光元件的中心光轴从上述出射空间的内侧向外侧直线性排列，在上述第一模式中，上述多个发光元件中与在该第一模式中不点亮而在上述第二模式中点亮的发光元件相比中心光轴朝向所述出射空间的内侧的发光元件点亮。