[发明专利]发光二极管透明导电层的图案化方法无效
申请号: | 201110084842.6 | 申请日: | 2011-03-29 |
公开(公告)号: | CN102646762A | 公开(公告)日: | 2012-08-22 |
发明(设计)人: | 杨侍蒲;朱瑞溢;郭奇文;黄坤富;陈俊荣;方国龙 | 申请(专利权)人: | 隆达电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/42 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 刘芳 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发光二极管 透明 导电 图案 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种发光二极管,且特别涉及一种具有发光二极管透明导电层的图案化方法。
背景技术
发光二极管(light emitting diode,LED)由于体积小、使用寿命长、耗电量低与亮度高等优点,以取代传统的灯泡,成为目前最重要的发光装置。
传统的发光二极管主要包括N型半导体层、主动层与P型半导体层(依序形成于基板上),之后直接于P型半导体层之上形成电极,然而,由于电流会局限于电极附近,造成电流聚集效应(current crowing),为了解决此问题,因此于制作电极之前,将透明导电层(transparent conductive layer)形成于P型半导体层之上。
之后,又有研究发现若将透明导电层加以图案化或粗化(roughed),可提升发光二极管的发光效率。目前透明导电层的图案化方法是利用传统的微影制程,微影制程包括光阻涂布(photoresist coating)、软烘烤(softbaking)、光罩对准(mask aligning)、曝光(exposure)、曝光后烘烤(post-exposure)、光阻显影(developing photoresist)与硬烘烤(hard baking)等步骤。
然而,上述的微影制程步骤繁琐,耗时且制程成本高,且光罩必须要直接接触(hard contact)光阻,此步骤会造成光罩的磨损,进而降低光罩的使用寿命。
因此,业界亟需提出一种发光二极管透明导电层的图案化方法,此方法能节省制程时间与成本。
发明内容
本发明的目的是提出一种发光二极管透明导电层的图案化方法,此方法能节省制程时间与成本。
本发明提供一种发光二极管透明导电层(transparent conductive layer,TCL)的图案化方法,包括以下步骤:提供一基板;形成一N型半导体层于该基板之上;形成一主动层于该N型半导体层之上;形成一P型半导体层于该主动层之上;形成一透明导电层于该P型半导体层之上;设置一光罩(mask)于该透明导电层之上;以及激光剥除(laser ablating)部分该透明导电层,形成一图案化或表面粗化(surface roughed)的透明导电层。
为让本发明的上述和其它目的、特征、和优点能更明显易懂,下文特举出较佳实施例,并配合所附附图,作详细说明如下。
附图说明
图1A-1C为一系列剖面图,用以说明本发明一实施例发光二极管透明导电层(transparent conductive layer,TCL)的图案化方法。
图2A-2C为一系列剖面图,用以说明本发明一较佳实施例发光二极管透明导电层(transparent conductive layer,TCL)的图案化方法。
图3A-3B为一系列剖面图,用以说明本发明第三实施例发光二极管透明导电层(transparent conductive layer,TCL)的图案化方法。
图4A-4B为一系列剖面图,用以说明本发明第四实施例发光二极管透明导电层(transparent conductive layer,TCL)的图案化方法。
附图标记:
100~基板; 102~N型半导体层;104~主动层;
108a~图案化的透明导电层; 106~P型半导体层;
108b~图案化的透明导电层; 108~透明导电层;
108c~表面粗化的透明导电层;140~光罩;
108d~表面粗化的透明导电层;150~激光。
具体实施方式
以下特举出本发明的实施例,并配合所附附图作详细说明,而在附图或说明中所使用的相同符号表示相同或类似的部分,且在附图中,实施例的形状或是厚度可扩大,并以简化或是方便标示。再者,附图中各组件的部分将以分别描述说明,值得注意的是,附图中未示或描述的组件,为所属技术领域中普通技术人员所知的形状,另外,特定的实施例仅为揭示本发明使用的特定方式,其并非用以限定本发明。
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