[发明专利]一种降低光纤双折射影响的光纤干涉测量系统

权利要求书

1.一种降低光纤双折射影响的光纤干涉测量系统，其特征是：激光由激光器发射，通过光源光纤传输至光纤耦合器，激光通过光纤耦合器分光，分别输出到光纤干涉测量系统的测量臂和参考臂，其中一路光经过测量臂光纤去偏器、测量臂光纤入射到测量臂光反射装置，被反射后经原路返回到光纤耦合器；另一路光经过参考臂光纤去偏器、参考臂光纤入射到参考臂光反射装置，被反射后由原路返回到光纤耦合器，两路反射光在光纤耦合器形成干涉光信号，该信号经过探测器光纤被光电探测器接收成为干涉信号，干涉信号经信号传输线传输至运算处理系统得出外界物理量信号的大小。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征是光反射装置是光纤反射镜，或者是法拉第旋转镜。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征是光纤耦合器的光功率是均分的。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征是光源光纤和探测器光纤使用单模光纤，或者使用多模光纤。

5.根据权利要求1所述的系统，其特征是测量臂光纤和参考臂光纤使用单模光纤。

6.根据权利要求5所述的系统，其特征是参考臂光纤和测量臂光纤封装在1根光缆中，或者分别封装在2根光缆中。

7.根据权利要求1所述的系统，其特征是激光器是半导体发光二极管激光器，或者是半导体激光二极管，或者是超辐射半导体发光二极管激光器。