[发明专利]一种降低光纤双折射影响的光纤干涉测量系统无效

专利信息
申请号: 201110088178.2 申请日: 2011-04-06
公开(公告)号: CN102401670A 公开(公告)日: 2012-04-04
发明(设计)人: 王涛 申请(专利权)人: 杭州安远科技有限公司
主分类号: G01D21/00 分类号: G01D21/00;G01H9/00;G01K11/32;G01B9/02;G02B27/28
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摘要:
搜索关键词: 一种 降低 光纤 双折射 影响 干涉 测量 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及光纤干涉测量系统,特别涉及基于Michelson光纤干涉测量装置的具有测量外界物理量功能的光纤干涉测量系统。

背景技术

光纤干涉测量系统采用全光纤器件,具有抗电磁干扰能力强、探测灵敏度高、传感器无源工作等特点,在振动、温度、位移等物理量的测量中被广泛应用。

根据光干涉理论,只有同一偏振态的光才能形成干涉,当光纤中存在双折射时,不同偏振状态的光传播速度不一样,产生的干涉信号也随之发生变化。因此,当光纤中存在双折射时,除了外界物理量引起的干涉外,系统中会出现残余偏振诱导相位噪声,即偏振噪声,引起系统的测量误差。对于光纤而言,由于温度等因素的影响,在实际使用过程中,双折射现象不可避免,为了降低测量误差,需要采取措施抑制双折射的影响。

图1示意性地给出了现有技术方案中基于Michelson光纤干涉测量装置的光纤干涉测量系统的基本结构。从激光器1发出的光,通过光源光纤2传输至光纤耦合器4,经过光纤耦合器4分为光强相等的两束光,传输到Michelson光纤干涉测量装置的测量臂和参考臂。其中一束光在作为测量臂光纤7中传输,另一束光在作为参考臂光纤8中传输,两束光经光反射装置9、10反射回来后,在光纤耦合器4处汇合并发生干涉。当测量臂光纤7和参考臂光纤8上外界物理量发生变化时,干涉光信号也发生变化,干涉光信号经探测器光纤3被光电探测器11接收,运算处理系统12通过读取光电探测器上的电压值,可以获得外界物理量信号的大小。

如果光反射装置采用法拉第旋转镜,从理论上而言,激光光束单程通过法拉第旋转镜时,其偏振主轴旋转45°,当激光光束被反射回来时,反射光束再次被旋转45°,从而与入射光束正交。激光沿光纤经法拉第旋转镜和Michelson反射镜后返回光纤的传输矩阵为:

式中t为光功率衰减因子。

光在传输过程中,单模光纤带来的双折射的影响,可以利用归一化的椭圆延迟器的琼斯矩阵和来表示。

当激光光束通过光纤时,前向传输的琼斯矩阵可以表示为:

式中*表示共轭,表示光纤的损耗,d2=aa*+bb*,参数a和b为单模光纤双折射率因子。

当激光光束返回时,后向传输的琼斯矩阵可以表示为:

利用琼斯矩阵和可以获得任意偏振光的传输矩阵:

通过式(4)我们可以看出传输矩阵为常数,在法拉第旋转镜保持完全90°的偏振旋转的条件下,可以有效地抑制单模光纤双折射带来的影响,从而提高Michelson光纤干涉测量装置的稳定性。但是在实际使用过程中,由于法拉第旋转镜的偏振旋转角度本身的误差,同时其与光源中心波长、环境温度及磁场有关,无法保持完全90°的偏振旋转,会造成光纤干涉测量系统的不稳定。

当法拉第旋转镜存在旋转角度误差时,其传输矩阵可以表示为:

式中,为法拉第旋转镜相对于旋转角度45°的角度误差。

根据图1,基于非理想法拉第旋转镜的Michelson光纤干涉测量装置归一化输出为:

(6)

式中,为耦合器的耦合系数;为与单模光纤双折射率因子a与b相关的参数;rs和rR为两个臂的集总损耗;为两个臂的相位差,当受到应力等外界物理量影响时,直接反应了外界物理量的变化。

当时,表明Michelson光纤干涉测量装置输出不受单模光纤双折射的影响;当(在实际使用过程中,由于法拉第旋转镜的偏振旋转角度本身存在误差,同时其与光源中心波长、环境温度及磁场有关,无法保持完全90°的偏振旋转),则Michelson光纤干涉测量装置输出仍然会受到单模光纤双折射的影响,其影响因子归一化关系如图3所示。当法拉第旋转镜完全失去对偏振的控制作用,相当于使用光纤反射镜作为光反射装置,Michelson光纤干涉测量装置输出受到完全的单模光纤双折射的影响14。

从上面对基于非理想法拉第旋转镜的Michelson光纤干涉测量装置的评述可以看出,由于法拉第旋转镜的偏振旋转角度本身存在误差,同时会该偏振选择角度因光源中心波长、环境温度及磁场的变化而产生变化,使其无法保持完全90°的偏振旋转,无法有效抑制单模光纤双折射带来的偏振噪声,从而大大降低了光纤干涉测量系统的稳定性与实用性。

发明内容

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