[发明专利]检查检验装置的方法和建立检验装置的测量变量的方法

说明书

技术领域

本发明涉及检查检验装置的方法和建立检验装置的测量变量的方法。更具体而言，本发明涉及使用光源和照相机来检查非接触式检验装置的当前状况的方法，以及建立与检验板的特性对应的最优测量状况的方法。

背景技术

在多种电子器件中使用如下安装板：其中电子部件安装在印刷电路板(PCB)上。该安装板通过在裸板的焊区上镀覆焊料然后使电子部件的末端与焊料镀覆区连接的方法来制作。

通常，为了验证安装有电子部件的PCB的可靠性，必须在安装电子部件之前或之后检验PCB制造得好坏。例如，必须在电子部件安装在PCB上之前检验焊料在PCB的焊区上镀覆得好坏，或者在电子部件安装在PCB上之后检验电子部件安装得好坏。

检验过程由如下检验装置执行，该检验装置包括：检验探测器，其具有提供检验光的光源；照相机，其用于拍摄图像等。

然而，可能出现以下情况，因长期使用检验装置而使检验探测器的硬件状况发生改变，进而降低检验可靠性。另外，由于PCB根据制造商的不同而具有不同的颜色和反射率，因此可能出现以下情况，当采用相同的检验状况检验具有不同特性的PCB时，检验可靠性降低。

发明内容

本发明示例性实施例提供一种检查检验装置的方法，该方法使用自动测试程序来检查检验探测器的硬件状况，并且判断与制造所述检验装置时相比所述检验装置的当前工作状况是否正常。

本发明示例性实施例还提供一种建立检验装置的测量变量的方法，该方法能够自动重建与检验板的特性对应的测量变量，以缩短作业文件的建立时间，并且提高检验精度。

下面将描述本发明的附加特征，并且部分附加特征可从说明书中直接得出，或可以通过实践本发明来获悉。

本发明示例性实施例披露了一种建立检验装置的照明强度的方法。该方法包括：将检验板安装在检验装置中；调整由所述检验装置的照相机获取的拍摄图像的频率分布图的宽度，以避开暗区和亮区；以及通过将所述频率分布图调整至图的中部附近，来调整所述检验装置的照明强度。

该方法还可以包括将所述频率分布图的宽度调窄。

该方法还可以包括使用具有与所述照明强度的平均值对应的参数的有效指标信息来调整所述检验装置的照明强度。所述有效指标信息可以包括可见度信息。使用具有与所述照明强度的平均值对应的参数的有效指标信息来调整所述检验装置的照明强度的步骤可以包括：在改变所述检验装置的照明强度的同时，测量可见度信息；以及用允许有效像素面积与检验区域面积之比超过所测可见度信息中的预先建立的有效值的照明强度来建立所述检验装置的照明强度。所述方法还可以包括：在改变所述检验装置的照明强度的同时测量所述可见度信息之后，使用所述所测可见度信息，利用所述检验装置的照相机预先直观地显示与有效像素对应的区域和不与所述有效像素对应的区域中的至少一个。

所述检验装置的照明可以对应于光栅图案照明。

所述方法还可以包括：在调整由所述检验装置的照相机获取的拍摄图像的频率分布图的宽度以避开所述暗区和所述亮区之前，

用第一颜色标记值与被选暗值相比更小或相等的所述暗区，并且用第二颜色标记值与被选亮值相比更大或相等的所述亮区。

本发明的另一个示例性实施例披露了一种建立检验装置的照明强度的方法。所述方法包括：将检验板安装在检验装置中；在改变所述检验装置的照明强度的同时，向所述检验板提供光；利用所述检验装置的照相机来获取被所述检验板反射的光，并且获取所述检验板的图像数据；从所获取的所述检验板的图像数据中获取用于建立照明强度的测量数据；以及基于所述测量数据建立所述检验装置的照明强度。

用于建立照明强度的所述测量数据可以包括可见度和灰度级中的至少一个。

在基于所述测量数据建立所述检验装置的照明强度时，可以基于可见度和灰度级来建立所述检验装置的照明强度。

在基于所述测量数据建立所述检验装置的照明强度时，可以用使有效像素的数量大于或等于所述检验板的图像数据中的阈值的照明强度来建立所述检验装置的照明强度，其中，在所述有效像素中所述测量数据在预定范围内。

在基于所述测量数据建立所述检验装置的照明强度时，可以用使有效像素的数量大于或等于所述检验板的图像数据中的阈值的照明强度来建立所述检验装置的照明强度，其中，在所述有效像素中可见度和灰度级在预定范围内。