[发明专利]一种Sn催化的Ga掺杂ZnO纳米线的制备方法无效

专利信息
申请号: 201110099863.5 申请日: 2011-04-20
公开(公告)号: CN102225871A 公开(公告)日: 2011-10-26
发明(设计)人: 常永勤;陆映东;龙毅 申请(专利权)人: 北京科技大学
主分类号: C04B41/50 分类号: C04B41/50;C01G9/03;B82Y40/00
代理公司: 北京东方汇众知识产权代理事务所(普通合伙) 11296 代理人: 朱元萍
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 sn 催化 ga 掺杂 zno 纳米 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种Sn催化的Ga掺杂ZnO纳米线的制备方法,其特征在于,制备步骤如下:

1)将Ga液滴放在氧化铝舟中,然后将ZnO粉和Sn粉按重量比10:2~10:3均匀混合后平铺在Ga源上面,将其覆盖住,将清洗后的镀有一层金膜的硅片镀金面朝下置于蒸发源正上方,硅片距离蒸发源的垂直距离约为5~6 mm;

2)将装有蒸发源和硅片的氧化铝舟推入管式炉中,然后在管式炉中充入200~300 ml/min的氩气,时间为5~10 min;

3)将炉温升至880~920℃后保温10~15 min,然后管式炉自然冷却至室温,期间充入流量为100~120 ml/min的氩气,取出硅片,硅片表面沉积有Ga掺杂ZnO纳米线。

2.如权利要求1所述的Sn催化的Ga掺杂ZnO纳米线的制备方法,其特征在于,Ga的掺杂含量为0.5~15 at.%,Sn的含量为0.5~6 at.%。

3.如权利要求1所述的Sn催化的Ga掺杂ZnO纳米线的制备方法,其特征在于,镀有金膜的硅片上获得的Ga掺杂ZnO纳米线,纳米线的直径为25~90 nm,长度为10~20 μm。

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