[发明专利]用于测试分选机的开放装置有效

专利信息
申请号: 201110103804.0 申请日: 2011-04-21
公开(公告)号: CN102274828A 公开(公告)日: 2011-12-14
发明(设计)人: 罗闰成;具泰兴;黄正佑 申请(专利权)人: 泰克元有限公司
主分类号: B07C5/00 分类号: B07C5/00
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 韩明星;金光军
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 用于 测试 分选 开放 装置
【权利要求书】:

1.一种用于测试分选机的开放装置,其特征在于包括:

开放板,位于载板插口的下侧,并具备开放销,该开放销能够通过操作用于固定装载于载板插口的半导体元件的固定部件而解除半导体元件的固定状态;

驱动源,使所述开放板向载板插口侧前进或从载板插口后退,在所述开放板向载板插口侧前进时,通过所述开放销操作固定部件解除固定状态,在所述开放板从载板插口侧后退时,通过所述开放销解除固定部件的操作状态而保持固定的状态,

在所述开放板向所述载板插口侧前进,并以通过所述开放销解除固定的状态完成固定部件的操作时,在所述开放板与插口之间保持预定间隔。

2.如权利要求1所述的用于测试分选机的开放装置,其特征在于,所述开放板具有防止紧贴突起,用以防止朝向载板的插口侧的对向面紧贴在插口,从而使插口与开放板之间保持预定的间隔。

3.如权利要求2所述的用于测试分选机的开放装置,其特征在于,所述防止紧贴突起位于与载板的框架对应的位置。

4.如权利要求1所述的用于测试分选机的开放装置,其特征在于,所述预定间隔在半导体元件的厚度以上。

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