[发明专利]透明导电膜湿法蚀刻液组合物无效

专利信息
申请号: 201110109688.3 申请日: 2011-04-29
公开(公告)号: CN102241985A 公开(公告)日: 2011-11-16
发明(设计)人: 张军;常积东;李承孝 申请(专利权)人: 西安东旺精细化学有限公司
主分类号: C09K13/06 分类号: C09K13/06
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 徐平
地址: 710075 陕西省西安*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 透明 导电 湿法 蚀刻 组合
【权利要求书】:

1.一种透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于:所述的蚀刻液组合物为草酸和硫酸的水溶液,其中草酸含量为0.5-10wt%;硫酸含量为0.1-40wt%。

2.根据权利要求1所述的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于:该蚀刻液组合物还含有0.01-10wt%铵盐。

3.根据权利要求2所述的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于:所述的铵盐选自硫酸铵、硫酸氢胺、硝酸铵、碳酸铵、碳酸氢铵、氯化铵、溴化铵、甲酸铵、乙酸铵、丙酸铵、草酸铵、苯甲酸铵中的一种或两种。

4.根据权利要求1至3任一所述的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于:该蚀刻液组合物还含有0.001-10wt%表面活性剂。

5.根据权利要求4所述的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于:所述的表面活性剂选自阳离子型、阴离子型、非离子型、Gemini型和两性表面活性剂中的一种或两种。

6.根据权利要求5所述的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于:所述的表面活性剂为Gemini型表面活性剂。

7.根据权利要求5所述的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于:该蚀刻液组合物中,草酸含量为1-7wt%;硫酸含量为1-25wt%;铵盐含量为0.1-8wt%;表面活性剂含量为0.01-10wt%;余量为水。

8.根据权利要求6所述的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于:该蚀刻液组合物中,草酸含量为1-7wt%;硫酸含量为1-25wt%;铵盐含量为0.1-8wt%;表面活性剂含量为0.01-10wt%;余量为水。

9.根据权利要求8所述的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于:该蚀刻液组合物中,草酸含量为2-4wt%;硫酸含量为2-15wt%;铵盐含量为0.5-5wt%;表面活性剂含量为0.1-5wt%;余量为水。

10.根据权利要求1所述的蚀刻液组合物,用于等离子显示器(PDP)、液晶显示器(LCD)、有机发光二极管显示器(OLED)透明导电膜氧化铟锡(ITO)或氧化铟锌(IZO)图样化的湿法蚀刻。

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