[发明专利]透明导电膜湿法蚀刻液组合物无效
申请号: | 201110109688.3 | 申请日: | 2011-04-29 |
公开(公告)号: | CN102241985A | 公开(公告)日: | 2011-11-16 |
发明(设计)人: | 张军;常积东;李承孝 | 申请(专利权)人: | 西安东旺精细化学有限公司 |
主分类号: | C09K13/06 | 分类号: | C09K13/06 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 徐平 |
地址: | 710075 陕西省西安*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 透明 导电 湿法 蚀刻 组合 | ||
技术领域
本发明涉及透明导电膜湿法蚀刻液组合物,尤其涉及一种可在等离子显示器(PDP),液晶显示器(LCD),有机发光二极管显示器(OLED)等中用作像素电极的透明导电膜如氧化铟锌(ITO)或氧化铟锌(IZO)图样化的湿法蚀刻液。
背景技术
在LCD、PDP、OLED等平面显示领域中,透明导电膜作为像素电极被广泛使用。氧化铟锌(ITO)由于具有,低电阻率、高可见光透过率、膜层硬度强且对基底附着力大、优良的化学稳定性等多种独特的性质,使用最为广泛。
目前,湿法蚀刻是ITO蚀刻的重要方法之一。主要是选择无机酸/盐或有机酸的水溶液组合物。其中,常用的有机酸有草酸、乙酸、柠檬酸等;常用的无机酸有盐酸、硫酸、磷酸、硝酸、碘酸、氢溴酸等。蚀刻液体系主要有,(1)盐酸+硝酸体系。该体系优点是蚀刻速率快,缺点是生产中无法对蚀刻速率进行精确控制;盐酸、硝酸的易挥发性,也造成体系组分含量不恒定;以及环境的不友好性。(2)磷酸体系。主要缺点是蚀刻后有残渣。(3)三氯化铁+盐酸体系。优点是蚀刻速率快,缺点是侧蚀量大,且对环境污染大。(4)碘酸或氢溴酸体系。虽然蚀刻性好,但易游离出卤素单质或挥发,不稳定且毒性大。(5)草酸体系。优点是蚀刻均匀。缺点是蚀刻速率慢,需要较高温度条件,且低温时易析出草酸晶体。
发明内容
为了解决现有技术的不足,本发明提供一种新型的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,该蚀刻液组合物蚀刻速率均匀稳定,无残留,不腐蚀配线,不含易挥发物质,不污染环境。
本发明的技术方案如下:
一种透明导电膜湿法蚀刻液组合物,该蚀刻液组合物为草酸和硫酸的水溶液,其中草酸含量为0.5-10wt%;硫酸含量为0.1-40wt%。这里所讲的酸的含量均是指其有效成分占蚀刻液组合物的质量分数。
本发明的蚀刻液组合物若还含有0.01-10wt%铵盐,效果较佳。
上述的铵盐优选硫酸铵、硫酸氢胺、硝酸铵、碳酸铵、碳酸氢铵、氯化铵、溴化铵、甲酸铵、乙酸铵、丙酸铵、草酸铵、苯甲酸铵中的一种或两种。实际上,一般常用的铵盐均能够应用于本发明。
本发明的蚀刻液组合物若还含有0.001-10wt%表面活性剂,与上述草酸、硫酸配合使用,效果较佳;或者蚀刻液组合物若还含有0.001-10wt%表面活性剂,与上述草酸、硫酸、铵盐配合使用,效果更佳。
上述的表面活性剂优选阳离子型、阴离子型、非离子型、Gemini型和两性表面活性剂中的一种或两种。
上述蚀刻液组合物中,草酸含量为1-7wt%;硫酸含量为1-25wt%;铵盐含量为0.1-8wt%;表面活性剂含量为0.01-10wt%;余量为水;此种配比效果较佳。
上述的表面活性剂优选Gemini型表面活性剂。此时的蚀刻液组合物配比仍采用:草酸含量为1-7wt%;硫酸含量为1-25wt%;铵盐含量为0.1-8wt%;表面活性剂含量为0.01-10wt%;余量为水;则效果更佳。
本发明的蚀刻液组合物的最佳配比为:草酸含量为2-4wt%;硫酸含量为2-15wt%;铵盐含量为0.5-5wt%;表面活性剂含量为0.1-5wt%;余量为水。
经验证,以本发明的上述基础配方0.5-10wt%草酸、0.1-40wt%硫酸为基本方案制得的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,能够用于等离子显示器(PDP)、液晶显示器(LCD)、有机发光二极管显示器(OLED)透明导电膜氧化铟锡(ITO)或氧化铟锌(IZO)图样化的湿法蚀刻。
本发明具有优秀并且稳定的蚀刻能力,蚀刻后无残渣,同时对铝、钼等金属配线无腐蚀,不含易挥发物质,不污染环境。
具体实施方式
本发明提供如下透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其含有
(1)0.5-10wt%的草酸;
(2)0.1-40wt%的硫酸;
(3)余量水。
本发明中,草酸起着均匀蚀刻的作用。草酸的含量为0.5-10wt%,优选1-7wt%,更优选2-4wt%。当含量小于0.5wt%时,蚀刻速率小,蚀刻效果差;当含量大于10wt%时,得不到更好的蚀刻效果,且易结晶析出。
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