[发明专利]多接口激光扫描测量配套基座

权利要求书

1.一种多接口激光扫描测量配套基座，其特征在于，包括底座、设于所述底座上的连接杆接口和脚架接口，所述连接杆接口与连接杆相连，所述脚架接口与脚架相连，所述连接杆与反射球相连。

2.如权利要求1所述的多接口激光扫描测量配套基座，其中所述底座的形状为圆柱体，所述连接杆接口和脚架接口分别设于所述圆柱体的两平面上。

3.如权利要求2所述的多接口激光扫描测量配套基座，其中所述圆柱体的平面与水平面平行。

4.如权利要求3所述的多接口激光扫描测量配套基座，其中所述连接杆接口的数量为三个。

5.如权利要求4所述的多接口激光扫描测量配套基座，其中三个所述连接杆接口和三个所述连接杆通过卡槽连接。

6.如权利要求5所述的多接口激光扫描测量配套基座，其中三个所述连接杆上共设有三个凸起，所述三个连接杆接口上共设有三个凹槽，通过所述凸起和凹槽的相互配合连接所述连接杆和连接杆接口。

7.如权利要求6所述的多接口激光扫描测量配套基座，其中三个所述凹槽的延伸方向不相同。

8.如权利要求4所述的多接口激光扫描测量配套基座，其中所述脚架接口与所述脚架通过螺纹连接。

9.如权利要求4所述的多接口激光扫描测量配套基座，其中所述脚架接口与所述脚架通过卡槽连接。

10.如权利要求4所述的多接口激光扫描测量配套基座，其中所述脚架接口还设有固定螺栓，所述脚架接口与所述脚架通过固定螺栓连接。