[发明专利]基于Etalon的激光波长/频率的测量方法、波长计及使用方法

说明书

(一)技术领域

本发明涉及激光波长的测量技术领域，具体为一种基于Etalon的激光的波长/频率的测量方法、波长计及使用方法。

(二)背景技术

随着光纤通信和精密计量等领域的高速发展，激光波长(频率)作为一种重要的参数，其测量技术的研究得到广泛关注。快速、精确地测量激光波长(频率)是决定相关领域发展进度的重要因素之一。

现有的光波长的测量技术和波长计扫描速度、测量精度都难以满足要求，且难以用于测量大功率范围内的激光波长。波长计测量速度慢、结构复杂、体型大、成本高，妨碍其在通信等行业的应用。

Etalon是一种光学仪器，具有两个平行的反射表面，由于光束在两表面多次反射而形成光干涉，这种干涉产生的光传输效率(T)是光的波长/频率的周期函数，可用艾里函数来表示，如式1和式2所示。

T=11+Fsin2(δ/2),]]>F=4R(1-R)2---(1)]]>

δ=4πnlcosθλ---(2)]]>

式中R＝r²，r为振幅反射系数，并且n为折射率，l为Etalon反射面间距，即两表面的间距，λ为入射的激光波长，θ为入射角度。

传输函数式(1)是周期函数，波峰与波峰间的频率间隔为：

Δv=c2nlcosθ---(3)]]>

此值被定义为自由频谱范围，为了能更形象表明周期性，以下统称为频率周期。

通过测量传输效率T，可以使用函数(1)和(2)计算激光光束的波长λ，但是此公式是周期函数，也就是说，同一传输效率对应多个波长/频率，此时若没有其他判定条件将无法确认它的实际输入的激光波长。故难以采用测量Etalon传输效率的方法直接测定输入激光的波长。

(三)发明内容

本发明的目的是公开一种基于Etalon的激光波长/频率的测量方法。

本发明的另一目的是设计根据本发明测量方法设计的基于Etalon的波长计及使用方法。