[发明专利]电阻式触摸屏的触摸轨迹检测方法

权利要求书

1.一种电阻式触摸屏的触摸轨迹检测方法，包括以下步骤：

建立查询表，该查询表包括触摸屏的多个位置坐标，及与该多个位置坐标一一对应的校准方法f，该校准方法f使该多个位置坐标的基准接触面积触摸点的实际信号强度值(V_0i)换算为统一的标准信号强度值(V_s)，即满足f(V_0i)＝V_s；接收触摸轨迹，该触摸轨迹包括至少一个触摸点；

判断该至少一个触摸点的位置坐标，并根据该至少一触摸点的实际接触面积读取该至少一个触摸点的实际信号强度值(V_i)；以及

从查询表中查询与该位置坐标对应的校准方法f，通过该校准方法f对该实际信号强度值(V_i)进行校准得到校准后信号强度值(V’_i)，即f(V_i)＝V’_i，通过校准后信号强度值(V’_i)体现该至少一触摸点的实际接触面积。

2.如权利要求所述的电阻式触摸屏的触摸轨迹检测方法，其特征在于，所述建立查询表包括以下步骤：

设定一基准接触面积A₀；

获取所述多个位置坐标下具有该基准接触面积A₀的触摸点的信号强度值(V_0i)，该信号强度值(V_0i)包括x方向的信号强度值(V_0ix)及y方向的信号强度值(V_0iy)，即V_0i＝(V_0ix，V_0iy)；

设定所述统一的标准信号强度值(V_s)，该标准信号强度值(V_s)包括x方向的标准信号强度值(V_sx)及y方向的标准信号强度值(V_sy)，即V_s＝(V_sx，V_sy)；以及

建立将该V_0i换算为该V_s的运算方法f，使f(V_0ix)＝V_sx，f(V_0iy)＝V_sy。

3.如权利要求2所述的电阻式触摸屏的触摸轨迹检测方法，其特征在于，所述运算方法f满足：f(V_0i)＝L_0i×V_0i＝V_s，其中L_0i为将V_0i换算为V_s需要乘的系数，且L_0i＝(L_0ix，L_0iy)，即该L_0i包括x方向的系数(L_0ix)及y方向的系数(L_0iy)。

4.如权利要求1所述的电阻式触摸屏的触摸轨迹检测方法，其特征在于，进一步包括对所述触摸点位置坐标对应的一个或相邻的多个电极处检测的实际信号强度值V_i分别进行校准。

5.如权利要求1所述的电阻式触摸屏的触摸轨迹检测方法，其特征在于，定义一运算方法g对所述校准后信号强度值(V’_i)进行一维化校准，使g(V’_ix，V’_iy)＝V’_i-total，其中所述V’_i＝(V’_ix，V’_iy)，即该V’_i包括在x方向的校准后信号强度值(V’_ix)及y方向的校准后信号强度值(V’_iy)。

6.如权利要求5所述的电阻式触摸屏的触摸轨迹检测方法，其特征在于，所述V’_i-total＝V’_ix+V’_iy。