[发明专利]电阻式触摸屏的触摸轨迹检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种触摸轨迹检测方法，尤其涉及一种基于多点电阻式触摸屏的触摸轨迹检测方法。

背景技术

近年来，随着触摸式电子设备如带有触摸屏的手机、平板电脑等的使用越来越普及，触摸检测技术也不断发展，通过触摸屏进行输入极大的提高了使用者的体验感。然而目前的触控检测技术皆是检测何处被按压或碰触，接着执行动作，但是对于需要体现笔触的应用则无法通过现行的检测方式来表现，也无法对触摸的压力进行区别。

例如，传统的手写输入装置大多记录手写笔或触摸物在触摸屏的触摸轨迹，然后通过手写识别系统对触摸轨迹进行识别，并根据预先的设定显示对应字型的文字。这种文字的检测识别方式无法体现使用者的个人字迹风格。另外，现有技术中的手写方式为通过检测笔迹中触摸点的位置坐标，并根据位置坐标来对应显示该笔迹，然而，该种检测方式无法检测使用者笔触以及力度的大小，从而也无法实现传统书法中的“点、横、竖、钩、挑、长撇、短撇、捺”等笔法，在电子亲笔签名以及绘画等功能受到了限制。

发明内容

有鉴于此，确有必要提供一种可以体现笔触和压力的基于电阻式触摸屏的触摸轨迹检测方法。

一种电阻式触摸屏触摸轨迹的检测方法，包括以下步骤：建立查询表，该查询表包括触摸屏的多个位置坐标，及与该多个位置坐标一一对应的校准方法f，该校准方法f使该多个位置坐标的基准接触面积触摸点的实际信号强度值(V_0i)换算为统一的标准信号强度值(V_s)，即满足f(V_0i)＝V_s；接收触摸轨迹，该触摸轨迹包括至少一个触摸点；判断该至少一个触摸点的位置坐标，并根据该至少一触摸点的实际接触面积读取该至少一个触摸点的实际信号强度值(V_i)；以及从查询表中查询与该位置坐标对应的校准方法f，通过该校准方法f对该实际信号强度值(V_i)进行校准得到校准后信号强度值(V’_i)，即f(V_i)＝V’_i，通过校准后信号强度值(V’_i)体现该至少一触摸点的实际接触面积。

相较于现有技术，本发明不仅检测触摸轨迹中触摸点的位置坐标，还同时检测触摸点的信号强度值，并建立该信号强度值与该触摸点触摸面积之间的关系，即用触摸点的信号强度值来表示触摸点的触摸面积，使相同面积的触摸点具有相同的信号强度值，不同面积的触摸点具有不同的信号强度值，从而实现了不同笔触以及压力的触摸检测。可广泛应用于电子签名以及电子绘画，提高了使用者的体验感。

附图说明

图1为本发明实施例提供的电阻式触摸屏触摸轨迹检测方法的流程图。

图2为本发明实施例提供的电阻式触摸屏触摸轨迹检测方法中所适用的电阻式触摸屏的俯视结构示意图。

图3为图2电阻式触摸屏主体单元的侧视结构示意图。

图4为图2电阻式触摸屏中第一导电层以及第二导电层空间示意图。

图5为本发明实施例碳纳米管膜的透射电镜照片。

图6为本发明实施例提供的电阻式触摸屏触摸轨迹检测方法中适用的电阻式触摸屏相同接触面积不同位置触摸点的信号强度值示意图。

图7为本发明实施例提供的电阻式触摸屏触摸轨迹检测方法中适用的电阻式触摸屏不同接触面积且相同触摸位置的触摸点的信号强度值示意图。

图8为本发明实施例提供的电阻式触摸屏触摸轨迹检测方法中基准接触面积A₀触摸点的实际信号强度值(V_0ix)校准为标准信号强度值(V_sx)的具体过程示意图。

图9为本发明实施例提供的电阻式触摸屏触摸轨迹检测方法中基准接触面积A₀触摸点的实际信号强度值(V_0iy)校准为标准信号强度值(V_sy)的具体过程示意图。

图10为本发明实施例提供的电阻式触摸屏触摸轨迹检测方法中的触摸轨迹示意图。

图11为图10中触摸轨迹中的某一触摸点B处的实际信号强度值校准过程示意图。

主要元件符号说明

电阻式触摸屏            10

主体单元                102

控制单元                104

第一电极板              12

第一基体                120