[发明专利]具有频率产生电路的集成电路有效

专利信息
申请号: 201110133751.7 申请日: 2011-05-18
公开(公告)号: CN102355259A 公开(公告)日: 2012-02-15
发明(设计)人: 弗朗索瓦丝·勒菲弗 申请(专利权)人: NXP股份有限公司
主分类号: H03L7/18 分类号: H03L7/18;H03L7/099
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王波波
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 具有 频率 产生 电路 集成电路
【权利要求书】:

1.一种至少包括第一和第二频率产生电路(50a,50b)的集成电路,其中,每个频率产生电路包括:

基准频率源(10a,10b);

压控振荡器(14a,14b);以及

反馈控制电路(12a,16a,18a;12b,16b,18b),用于控制压控振荡器(14a,14b)以提供期望的输出频率信号,

其中,所述集成电路包括:开关装置,用于将第一频率产生电路(50a)的压控振荡器(14a)的输出切换到第二频率产生电路(50b)的反馈控制电路(12b,16b,18b)中,以提供用于测试第二频率产生电路(50b)的反馈控制电路的一个或多个组件的测试信号。

2.根据权利要求1所述的集成电路,其中,每个频率产生电路的反馈控制电路(12a,16a,18a;12b,16b,18b)包括:分频器(16a,16b),对压控振荡器输出进行分频;以及比较器(12a,12b),将分频器输出与基准频率相比较,其中比较器(12a,12b)的输出用于控制压控振荡器(14a,14b)。

3.根据权利要求2所述的集成电路,其中,所述开关装置用于将第一频率产生电路(50a)的压控振荡器(14a)的输出切换到第二频率产生电路(50b)的分频器(16b)。

4.根据权利要求3所述的集成电路,包括:输出(22b),向所述输出(22b)提供第二频率产生电路(50b)的分频器输出信号。

5.根据权利要求2、3或4所述的集成电路,其中,比较器(12a,12b)包括相位和频率比较器。

6.根据前述权利要求中任一项所述的集成电路,其中,基准频率源包括晶体振荡器(10a,10b)。

7.根据前述权利要求中任一项所述的集成电路,包括:调谐器,其中,将第一频率产生电路(50a)的压控振荡器(14a)的输出提供给混频器(4),所述混频器(4)用于对RF输入信号进行混频,以产生中频输出信号。

8.根据权利要求7所述的集成电路,其中,将第二频率产生电路(50b)的压控振荡器(14b)的输出提供给前端电路(3),所述前端电路(3)用于在对RF输入信号进行混频之前处理该RF输入信号。

9.根据权利要求1到7中任一项所述的集成电路,包括:双流调谐器,其中,将第一和第二频率产生电路的压控振荡器(14a,14b)的输出提供给相应的混频器(4a,4b),相应的混频器(4a,4b)用于对一个RF输入信号流进行混频,以产生中频输出信号流。

10.根据前述权利要求中任一项所述的集成电路,其中,开关装置包括用于选择被切换到反馈控制电路中的信号的开关。

11.一种测试集成电路的第二频率产生电路(50b)的一个或多个组件的方法,所述集成电路具有第一和第二频率产生电路(50a,50b),所述方法包括:

将第一频率产生电路(50a)的输出切换到第二频率产生电路(50b)的反馈控制电路(12b,16b,18b)中,以提供用于测试第二频率产生电路(50b)的反馈控制电路的一个或多个组件的测试信号;以及

分析反馈控制电路的一个或多个组件对测试信号的响应。

12.根据权利要求11所述的方法,包括:对分频器(16b)进行测试。

13.根据权利要求12所述的方法,包括:将第一频率产生电路(50a)的压控振荡器(14a)的输出切换到第二频率产生电路(50b)的分频器(16b)。

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