[发明专利]具有频率产生电路的集成电路有效
申请号: | 201110133751.7 | 申请日: | 2011-05-18 |
公开(公告)号: | CN102355259A | 公开(公告)日: | 2012-02-15 |
发明(设计)人: | 弗朗索瓦丝·勒菲弗 | 申请(专利权)人: | NXP股份有限公司 |
主分类号: | H03L7/18 | 分类号: | H03L7/18;H03L7/099 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王波波 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 频率 产生 电路 集成电路 | ||
1.一种至少包括第一和第二频率产生电路(50a,50b)的集成电路,其中,每个频率产生电路包括:
基准频率源(10a,10b);
压控振荡器(14a,14b);以及
反馈控制电路(12a,16a,18a;12b,16b,18b),用于控制压控振荡器(14a,14b)以提供期望的输出频率信号,
其中,所述集成电路包括:开关装置,用于将第一频率产生电路(50a)的压控振荡器(14a)的输出切换到第二频率产生电路(50b)的反馈控制电路(12b,16b,18b)中,以提供用于测试第二频率产生电路(50b)的反馈控制电路的一个或多个组件的测试信号。
2.根据权利要求1所述的集成电路,其中,每个频率产生电路的反馈控制电路(12a,16a,18a;12b,16b,18b)包括:分频器(16a,16b),对压控振荡器输出进行分频;以及比较器(12a,12b),将分频器输出与基准频率相比较,其中比较器(12a,12b)的输出用于控制压控振荡器(14a,14b)。
3.根据权利要求2所述的集成电路,其中,所述开关装置用于将第一频率产生电路(50a)的压控振荡器(14a)的输出切换到第二频率产生电路(50b)的分频器(16b)。
4.根据权利要求3所述的集成电路,包括:输出(22b),向所述输出(22b)提供第二频率产生电路(50b)的分频器输出信号。
5.根据权利要求2、3或4所述的集成电路,其中,比较器(12a,12b)包括相位和频率比较器。
6.根据前述权利要求中任一项所述的集成电路,其中,基准频率源包括晶体振荡器(10a,10b)。
7.根据前述权利要求中任一项所述的集成电路,包括:调谐器,其中,将第一频率产生电路(50a)的压控振荡器(14a)的输出提供给混频器(4),所述混频器(4)用于对RF输入信号进行混频,以产生中频输出信号。
8.根据权利要求7所述的集成电路,其中,将第二频率产生电路(50b)的压控振荡器(14b)的输出提供给前端电路(3),所述前端电路(3)用于在对RF输入信号进行混频之前处理该RF输入信号。
9.根据权利要求1到7中任一项所述的集成电路,包括:双流调谐器,其中,将第一和第二频率产生电路的压控振荡器(14a,14b)的输出提供给相应的混频器(4a,4b),相应的混频器(4a,4b)用于对一个RF输入信号流进行混频,以产生中频输出信号流。
10.根据前述权利要求中任一项所述的集成电路,其中,开关装置包括用于选择被切换到反馈控制电路中的信号的开关。
11.一种测试集成电路的第二频率产生电路(50b)的一个或多个组件的方法,所述集成电路具有第一和第二频率产生电路(50a,50b),所述方法包括:
将第一频率产生电路(50a)的输出切换到第二频率产生电路(50b)的反馈控制电路(12b,16b,18b)中,以提供用于测试第二频率产生电路(50b)的反馈控制电路的一个或多个组件的测试信号;以及
分析反馈控制电路的一个或多个组件对测试信号的响应。
12.根据权利要求11所述的方法,包括:对分频器(16b)进行测试。
13.根据权利要求12所述的方法,包括:将第一频率产生电路(50a)的压控振荡器(14a)的输出切换到第二频率产生电路(50b)的分频器(16b)。
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