[发明专利]测试载片台无效
申请号: | 201110137967.0 | 申请日: | 2011-05-25 |
公开(公告)号: | CN102305882A | 公开(公告)日: | 2012-01-04 |
发明(设计)人: | 王晔;张天力;吴宾;顾良波 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路技术与产业促进中心 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R27/02 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 201203 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 载片台 | ||
1.一种测试载片台,其特征在于,包括承载台和至少两组偏置导线和测量导线;
所述承载台用于承载待测晶圆的表面涂覆有导电层;
所述偏置导线和测量导线均设置在所述承载台上,且均与所述导电层电连接。
2.如权利要求1所述的测试载片台,其特征在于,所述偏置导线和测量导线以相间方式排布在同一圆周上,且所述偏置导线和测量导线沿其圆周均匀分布。
3.如权利要求1所述的测试载片台,其特征在于,所述偏置导线与其对应的测量导线之间的夹角为180°。
4.如权利要求1~3中任一权利要求所述的测试载片台,其特征在于,所述偏置导线和测量导线均设置在所述承载台的侧壁上。
5.如权利要求1~3中任一权利要求所述的测试载片台,其特征在于,所述导电层为金属层。
6.如权利要求1~3中任一权利要求所述的测试载片台,其特征在于,该测试载片台设有三组偏置导线和测量导线。
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