[发明专利]阵列基板的检测方法及检测系统无效
申请号: | 201110142739.2 | 申请日: | 2011-05-30 |
公开(公告)号: | CN102193223A | 公开(公告)日: | 2011-09-21 |
发明(设计)人: | 郑文达 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G01J5/00 |
代理公司: | 广东国晖律师事务所 44266 | 代理人: | 陈琳 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 检测 方法 系统 | ||
1.一种阵列基板的检测方法,所述的方法包括:
向所述阵列基板上的数据线或/和栅极线供电,并持续设定的时间;
对所述阵列基板上数据线或/和栅极线进行温度感测,记录温度感测结果;
查找所述温度感测结果中异常的温度数据,查找所述异常的温度数据对应的数据线或/和栅极线上的点,将所述异常的温度数据对应的数据线或/和栅极线上的点作为缺陷点。
2.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述的对阵列基板上数据线或/和栅极线进行温度感测,记录温度感测结果具体包括:对所述阵列基板上的数据线或/和栅极线逐点感测,并逐点记录所述阵列基板上的数据线或/和栅极线的温度数据;所述的查找所述温度感测结果中异常的温度数据具体包括:比较记录的所述阵列基板上的数据线或/和栅极线的温度数据,将其中温度数值高的作为异常温度数据。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述的对阵列基板上数据线或/和栅极线进行温度感测,记录温度感测结果具体包括:对所述阵列基板上的数据线或/和栅极线整条感测,记录整条被感测数据线或/和栅极线的温度数据,形成所述被感测数据线或/和栅极线的温度曲线;所述的查找所述温度感测结果中异常的温度数据具体包括:查找所述温度曲线中有幅度变化的点,将所述有幅度变化的点的温度数值作为异常温度数据。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述的查找所述异常的温度数据对应的数据线或/和栅极线上的点具体包括:
根据所述温度曲线上各个点对应的坐标,查找所述有幅度变化的点的坐标,根据所述的坐标查找对应的数据线或/和栅极线上的点。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,具体包括:
采用热像仪对所述阵列基板上数据线或/和栅极线进行温度感测,所述热像仪对所述阵列基板上的数据线或/和栅极线进行温度感测后形成红外热像图;根据所述红外热像图中图像的颜色确定所述异常的温度数据,查找所述异常的温度数据对应的数据线或/和栅极线上的点。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:
清除所检测到的所述阵列基板上数据线或/和栅极线的缺陷点,用形成所述数据线或/和栅极线的材料填补所述缺陷点。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对阵列基板上数据线或/和栅极线进行温度感测具体包括:
在所述阵列基板上的栅极线形成之后,对所述阵列基板上的栅极线进行温度感测;在所述阵列基板上的数据线形成之后,对所述阵列基板上的数据线进行温度感测。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对阵列基板上数据线或/和栅极线进行温度感测具体包括:
在所述阵列基板上的栅极线和数据线形成之后,同时对所述阵列基板上的栅极线和数据线进行温度感测。
9.一种阵列基板的检测系统,其特征在于,所述的系统包括:
电源,用来通过所述检测电路向阵列基板的数据线或/和栅极线供电;
检测电路,用来连通所述电源与所述阵列基板的数据线或/和栅极线,使得所述电源向所述阵列基板的数据线/栅极线供电,输入电流;以及,
温度感测装置,用来感测所述阵列基板的数据线或/和栅极线在通电设定时间后各个点的温度,并用来记录和显示温度感测结果。
10.根据权利要求9所述的系统,其特征在于,所述温度感测装置为热像仪,所述热像仪用来感测所述阵列基板的数据线或/和栅极线在通电设定时间后的温度,形成与所述数据线或/和栅极线对应的红外热像图。
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