[发明专利]基于EML激光器的长距XFP模块核心参数调试方法有效
申请号: | 201110142982.4 | 申请日: | 2011-05-31 |
公开(公告)号: | CN102215063A | 公开(公告)日: | 2011-10-12 |
发明(设计)人: | 郑晓锋;胡朝阳;彭奇;程锦 | 申请(专利权)人: | 索尔思光电(成都)有限公司 |
主分类号: | H04B10/08 | 分类号: | H04B10/08 |
代理公司: | 四川力久律师事务所 51221 | 代理人: | 林辉轮;王芸 |
地址: | 610000 四川省成都市高新区西*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 eml 激光器 xfp 模块 核心 参数 调试 方法 | ||
1.一种基于EML激光器的长距XFP模块核心参数调试方法,包括:
步骤1:将光发射组件和光吸收组件的序列号记录在数据库中并下载固件;
步骤2:通过I2C对模块的各项参数进行初始化;
步骤3:常温调试:在20℃-30℃的常温下调试模块的各项参数;
步骤4:高温调试:在70℃-85℃高温下调试模块的各项参数;
步骤5:模块校准;
步骤6:通道代价测试;
步骤7:最终化处理和EEPROM 检查;
步骤8:高温测试:在70℃-85℃高温下测试模块的各项参数。
2.如权利要求1所述的调试方法,其中所述高温调试包括:
在70℃-85℃高温下调试模块的各项参数;
对高温调试得到的值与常温调试得到的值进行拟合,得到查找表,以对温度进行补偿。
3.如权利要求1所述的调试方法,其中所述模块校准为调准模块各项参数的监控值。
4.如权利要求3所述的调试方法,其中所述模块校准为通过监测模块各项参数的二点值,并将所述二点值拟合得到多点控制单元的监控值与实际值之间的对应曲线。
5.如权利要求3所述的调试方法,其中所述模块校准为通过监测模块各项参数的多点值,并将所述多点值拟合得到多点控制单元的监控值与实际值之间的对应曲线。
6.如权利要求1所述的调试方法,其中所述通道代价测试包括:
模块发出的光通过光开关选择带光纤和不带光纤到达参考模块的收端;
测试带光纤和不带光纤的灵敏度值;
将所述带光纤和不带光纤的灵敏度值相减。
7.如权利要求1所述的调试方法,其中所述最终化处理和EEPROM 检查包括:
写入保护密码;
检查模块调试后的各项参数是否满足客户要求。
8.如权利要求1所述的调试方法,其中所述模块的各项参数包括:光功率、光功率、消光比、交叉点、波长、最佳灵敏度电压、信号丢失使能、信号恢复使能、眼图模板裕量。
9.如权利要求8所述的调试方法,其中所述光功率包括输入光功率和输出光功率。
10.如权利要求8所述的调试方法,其中所述常温调试包括:
第一步,温度校准;
第二步,根据光发射组件厂家的不同,设定EA值为最小值;
第三步,若模块为TDM模块,直接跳转第四步;若模块为DWDM模块,进行波长调试;
第四步,光功率调试;
第五步,判断所述光功率和所述偏置电流是否满足客户要求:若所述光功率或者所述偏置电流不满足客户要求,进入第六步;若所述光功率和所述偏置电流满足要求,跳转第七步;
第六步,通过偏置电流和光功率判断EA步长值,将所述EA步长值与模块的EA值相加,得到调整后的EA值,并将调整后的EA值写入模块;跳转第三步;
第七步,对所述消光比和所述交叉点进行调试;若模块为DWDM模块,对所述波长进行优化;
第八步,对所述光功率、交叉点、消光比进行测试,以检查是否满足客户要求;
第九步,判断所述眼图模板裕量是否满足客户要求,若所述眼图模板裕量不满足客户要求,进入第十步;若所述眼图模板裕量满足客户要求,跳转第十一步;
第十步,通过所述眼图模板裕量判断所述EA步长值,将所述EA步长值与模块的EA值相加,得到调整后的EA值,并将调整后的EA值写入模块;跳转第三步;
第十一步,对最佳灵敏度电压进行调试,对最佳灵敏度、信号丢失使能和信号恢复使能进行测试;
第十二步,判断所述信号丢失使能和信号恢复使能是否满足客户要求,若满足要求,调试结束;若不满足要求,调试所述信号丢失使能和信号恢复使能,并跳转第十一步。
11.如权利要求10所述的调试方法,其中所述第一步温度校正包括:
采用常温和高温两点直线拟合得到实际温度和多点控制单元的模数转换值的对应关系;
通过查询多点控制单元的模数转换值得到模块温度值。
12.如权利要求10所述的调试方法,其中所述第四步光功率调试包括通过多点控制单元的数模转换值来调整所述光功率的大小。
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