[发明专利]基于EML激光器的长距XFP模块核心参数调试方法

说明书

技术领域

本发明涉及光纤数椐通讯及电信通讯中的光电转换器件领域，特别是基于电吸收调制（EML）激光器的长距XFP（10 Gigabit Small Form Factor Pluggable Module）模块核心参数调整优化算法。

背景技术

目前，在基于EML 激光器的长距XFP模块的调试中，EA（electro-absorption voltage 电吸收电压）值采用光发射组件（TOSA）供应商提供的数值或者采用实际生产过程的经验值，并且在模块调试的初始化阶段写入，然后在调试的过程中不再改变该值，除非因为受EA值的影响导致其他参数不达标，如光功率（AOP），眼图模板裕量（mask margin），偏置电流（Ibias），通道代价（DP）。如果EA值过小，那么就会导致AOP变小和眼图变差（mask margin 变小）；EA值过大，虽然眼图变好，但会导致通道代价指标变差。这样一来如果模块在调试之后的通道代价测试阶段发现不达标，就只能改变EA值重新调试，然后测试，如果测试不达标，又要重新改变EA值然后重新调试测试，如此往返，面对大规模生产，非常浪费人力物力，并且需要操作员有很强的专业知识。

发明内容

因此本发明的目的在于解决现有技术中反复改变EA值进行调试而造成浪费人力物力的问题，提供一种EA值可调优化调试方法，采用循环查找模块各项关键参数最优值。

根据上述目的，本发明提供了一种（这部分等权利要求最后定下来之后再添加）

本发明将EA值优化算法加入到常温调试过程中，就可以在调试过程实现在满足AOP，Mask margin，ibias等关键参数的前提下，找到最有利DP的最优的EA值，这样就后续的DP测试中，只要DP测试不通过就可以将该模块作为坏件处理,这样就大大减少了人力成本。经过一段时间的大规模生产验证，该算法在增加良率和减少人力成本上是非常有效的。

附图说明

本实用优化算法将通过参照附图的方式说明，其中：

图1是测试流程；

图2是常温调试流程。

具体实施方式

如图1所示的测试流程图，根据本调试算法，模块调试分为以下几个主要调试步骤：

步骤1：配对：将光发射组件（TOSA）和光吸收组件（ROSA）的序列号记录在数据库中并下载固件（firmware）；

步骤2：初始化：通过I²C对模块的各项参数进行初始化，初始化参数包括光功率（AOP）、消光比（ER）和交叉点（Crossing point）等，其中光功率包括输入光功率、输出光功率；

步骤3：常温调试：在20℃-30℃的常温下调试模块的各项参数，如输入、输出光功率、消光比,交叉点、波长、最佳灵敏度电压（APD电压）、信号丢失使能（LOSA）、信号恢复使能（LOSD）等相关参数；通过二分法或逼近法调整各个参数的模数转换值（DAC值），使模块的各项指标达到要求的范围。其中，所要求的范围一般由客户提出。如一个客户要求，在长距80km时：输入、输出光功率在1～2dbm范围内，消光比ER在10～12db范围内，交叉点crossing point在48%～52%范围内，信号丢失使能LOSA和信号恢复使能LOSD在-26dbm～-34dbm范围内。然后，通过调试得到最佳灵敏度电压。

步骤4：高温调试：在70℃-85℃高温下调试模块的参数。由于模块的有些参数会随温度的变化而显著变化，如APD电压，波长等。因此在常温下的参数值已经不能满足高温的需要，所以要在高温重新调试，并与常温得到的值进行拟合得到查找表对温度进行补偿。比如常温t0得到对应参数值，高温t1得到对应参数值，然后用t0和t1两点来直线拟合得到不同温度下的补偿值，用来作为温度补偿。

步骤5：模块校准：调准模块的各项监控值，如模块发端的输出光功率，模块收端的输入光功率，偏置电流（Ibias）等，通过监测二点或者多点，并将该二点或多点拟合得到多点控制单元MCU的监控值（ADC值）与实际值之间的对应曲线，然后就可以通过MCU的监控值（各项参数对应的ADC值）和各自的对应曲线得到模块各项参数的监控值。

步骤6：通道代价(DP)测试:模块发出的光通过光开关选择带光纤和不带光纤到达参考模块的收端，并测试带光纤和不带光纤的灵敏度值，二者相减即为通道代价值。

步骤7：最终化处理和EEPROM 检查：写入保护密码，并检查模块调试后的各项值是否满足要求，如偏置电流、查找表和模块信息等对写入到模块的值和模块的主要参数指标、模块信息和客户信息等进行逐项比对检查是否满足要求；