[发明专利]可配置的测试套件

说明书

技术领域

本公开涉及一种对微处理器进行测试的系统和方法，尤其涉及一种对包含程序（具有静态部分和动态部分）的微处理器进行测试的系统和方法。

背景技术

本节中的陈述仅仅提供与本公开相关的背景信息，并且可以或者可以不构成现有技术。

健康监测测试系统通常用于检查由计算系统的微处理器的硬件或软件产生的错误。该测试系统中包括测试套件，该测试套件执行一系列测试以监测微处理器的不同参数。决定测试序列中包含哪些测试是设计测试套件时所要考虑的一个重要因素，因为执行太多的测试会是昂贵的而且也会浪费计算机内存及CPU处理量。同时，期望的是提供一种根据被测试微处理器的类型可重复使用的测试系统。

测试套件可以包括多个测试，其中各测试均对微处理器的参数进行监测。根据所使用微处理器的类型，将不同类型的测试包含在测试套件中。例如，当与电池接触模块相比较时，车身控制模块通常将包含不同的测试。在一个方法中，测试套件仅包括在不同的微处理器之间共用的测试。然而，当采用此方法时，允许每片微处理器决定如何执行不包含在测试套件中的剩余的测试。在一个替代性实例中，将测试的超集存储于存储器中，其中测试的超集包含用于不同微处理器的所有不同测试。例如，测试套件可以包括车身控制模块以及电池接触模块所需的所有测试。然而，此方法会导致在这两种微处理器中执行不必要的测试。

虽然当前的健康监测测试系统实现了其预期目的，但是仍然存在对新的改进的测试系统的需求，其从可重复使用性的观点来看显示出改进的性能并且减小被浪费的计算机内存和CPU处理量。

发明内容

本发明提供了一种具有包含编程环境的微处理器的控制模块。该编程环境具有测试数据结构、配置数据结构、和监测数据结构，这些数据结构中的每一个均包含数据。至少一个测试数据实例（data instance）与测试数据结构相关联，并且至少一个配置数据实例与配置数据结构相关联。配置数据实例是对微处理器的参数进行监测的诊断测试。监测数据结构创建测试数据实例，使得各测试数据实例与配置数据实例中的一个相对应。

所述程序包括第一控制逻辑，该控制逻辑用于关联作为编程环境核心基础架构部分的一部分的测试数据结构、配置数据结构和监测数据结构，其中程序的核心基础架构部分是静态的。所述程序还包含第二控制逻辑，该控制逻辑用于关联程序的特定布置（deployment-specific）部分中的配置数据实例，其中程序的特定布置部分是动态的。所述程序还包括第三控制逻辑，该控制逻辑用于执行配置数据实例，配置数据实例是对微处理器各参数中的一个参数进行监测的诊断测试。所述程序包括第四控制逻辑，该控制逻辑用来监测微处理器中的指示已生成错误代码的数据信号。错误代码是通过执行配置数据实例而生成。最后，所述程序包括第五控制逻辑，该控制逻辑用于将诊断测试的结果存储于测试数据实例中。

在本发明的一个实施例中，各诊断测试以一定的偏移来布置，其中所述偏移代表时间上的延迟。

在本发明的另一个实施例中，时间上的延迟约为1000毫秒。

在发明的又一个实施例中，测试数据结构包含32个诊断测试。

在本发明的一个实施例中，配置数据结构包含多达32个的诊断测试。

在本发明的另一个实施例中，该系统包括执行模式。执行模式根据微处理器是否处于启动模式、运行期模式和关闭模式中的一种模式来决定是否执行特定的诊断测试。

在本发明的又一个实施例中，所述控制模块是安全气囊控制模块、车身控制模块、发动机控制模块、动力系控制模块、车辆集成控制模块、或者变速器控制模块中的一种。

在本发明的一个实施例中，DTC ID（诊断故障代码标识）与每个错误代码相关联。

在本发明的一个实施例中，多个故障严重性级别与错误代码相关联。

在本发明的另一个实施例中，将多个是诊断测试的配置数据实例用于监测微处理器的不同参数。

在本发明的又一个实施例中，诊断测试中的一个测试是堆栈使用测试，该测试显示了堆栈使用百分率。