[发明专利]一种制作位相型波带片的方法无效
申请号: | 201110150368.2 | 申请日: | 2011-06-07 |
公开(公告)号: | CN102207569A | 公开(公告)日: | 2011-10-05 |
发明(设计)人: | 谢常青;方磊;朱效立;李冬梅;刘明 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G02B5/18 | 分类号: | G02B5/18;G02B7/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 制作 位相 波带片 方法 | ||
技术领域
本发明涉及衍射光学元件制作技术领域,尤其涉及一种采用等离子体气相沉积(PECVD)技术制作位相型波带片的方法。
背景技术
波带片实质上就是一种衍射光栅,它可以产生很多衍射级次。无论什么时候,在光线通过连线的圆环边界时,光程差为mλ/2(m为整数)。图1给出一个单色平面波照射一个波带片时,第一和第三级焦点的光路。负的衍射级数也存在,对应于从虚焦点出现的光线。理论上,波带片可以有无限个焦点:
式(1)中当m=1时可以得到f≡f1,在这一点上,波带片和传统透镜之间明显不同。然而各个衍射级次的衍射效率必须要考虑,所以实际中并不是所有的焦点都必须存在。例如,对于菲涅耳波带片来说,交替存在的透明和不透明圆环部分都是等面积,但所有偶数级次焦点位置的合成振幅都是零。仅仅奇数级次焦点(m=±1,±3,±5....)位置和零级(未衍射部分)的振幅出现。如图1所示,图1是波带片多级焦点的情况,图中给出第一级和第三级实、虚焦点的位置。
传统的波带片制作工艺往往是制作面积相同的透明和不透明的交替圆环,不透明的原来用来遮挡半波长的奇数倍或者偶数倍的光,而透明的部分用来透过半波长的偶数倍或者奇数倍的光,而他们由于遮挡了一般的面积,从而衍射效率都要低于50%。
发明内容
(一)要解决的技术问题
有鉴于此,本发明的主要目的在于提供一种采用PECVD工艺制作位相型波带片的方法,以提高波带片的衍射效率。
(二)技术方案
为达到上述目的,本发明提供了一种制作位相型波带片的方法,包括:
制作基片;
在该基片上旋涂光刻胶,对该光刻胶进行光刻、曝光和显影,形成波带片的光刻胶图形;
在形成波带片的光刻胶图形的基片上沉积氮化硅层;
去除光刻胶并刻蚀基片,形成位相型波带片。
上述方案中,所述制作基片的步骤包括:在清洁的石英玻璃衬底上,采用电子束蒸发方法蒸发铬Cr/金Au层,形成基片,其中Cr的厚度为5nm,Au的厚度为10nm。
上述方案中,所述在基片上旋涂光刻胶,对该光刻胶进行光刻、曝光和显影,形成波带片的光刻胶图形的步骤包括:在基片上旋涂厚度为600nm的电子束光刻胶zep-A,并在烘箱中烘烤使其干燥,然后利用电子束在涂了电子束光刻胶zep-A的基片上轰击出所需的波带片图形;对形成的波带片图形进行曝光,然后使用显影液进行显影,在基片上形成波带片的光刻胶图形。
上述方案中,所述在形成波带片的光刻胶图形的基片上沉积氮化硅层的步骤包括:采用等离子体气相沉积技术,在形成波带片的光刻胶图形的基片上沉积一层氮化硅层,该氮化硅层的厚度是波长的奇数倍。所述沉积氮化硅层在120℃的温度下进行。
上述方案中,所述去除光刻胶并刻蚀基片,形成位相型波带片的步骤包括:采用去胶液去除光刻胶,然后采用ICP刻蚀基片底层的铬金层,形成位相型波带片。
(三)有益效果
从上述技术方案可以看出,本发明具有以下有益效果:
1、本发明提供的制作位相型波带片的方法,相对于传统波带片制作工艺,制作工艺简单,成本低廉,能提高波带片的衍射效率。
2、本发明提供的制作位相型波带片的方法,利用的PECVD的方法制作的波带片使得第2n+1环和第2n+2环的相位相差一个相位,而第2n环和第2n+1环的相位不是相差半个相位而是完全一样,如图7,这样既保证了聚焦效果也能够达到更高的衍射效率。
3、本发明提供的制作位相型波带片的方法,采用的zep光刻胶具有很高的分辨率,采用可以极大的提高精确率,波带片台阶的直壁性好。
4、本发明提供的制作位相型波带片的方法,是一种制造工艺简单、制造成本低、生产效率高,并能提供更高的衍射效率的制作方法,可以制作出具有聚焦功能的波带片。
附图说明
图1是波带片多级焦点的情况,图中给出第一级和第三级实、虚焦点的位置;
图2是本发明提供的制作位相型波带片的方法流程图;
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