[发明专利]中子织构衍射仪测控方法及系统

权利要求书

1.一种中子织构衍射仪测控方法，包括如下步骤：

(1)通过监视器连续记录一段时间内的中子数，以查看中子束流的稳定性，根据中子束流的稳定性确定探测器计数的测量模式；

(2)使用中子织构衍射仪扫描样品的衍射谱，并查看晶面的衍射峰及其孤立程度，将孤立的衍射峰对应的晶面作为极图测量的对象，并将所确定的各个晶面的极图测量参数一次性输入计算机；

(3)针对每个待测量的晶面极图，测量其衍射角对应的中子计数，以及衍射角两侧本底对应的中子计数。

2.如权利要求1所述的中子织构衍射仪测控方法，其特征在于：步骤(1)中，如果中子束流的稳定性大于或等于99％，则设定每个点的测量时间，用以固定入射的中子计数；如果中子束流的稳定性小于99％，则设定监视器定标数，用以固定入射的中子计数。

3.如权利要求1所述的中子织构衍射仪测控方法，其特征在于：步骤(2)中，将所述的各个晶面的极图测量参数按行依次输入到计算机的记事本中，每一行数据对应一个晶面极图的测量参数。

4.如权利要求3所述的中子织构衍射仪测控方法，其特征在于：步骤(2)中，所述的各个晶面的极图测量参数包括2theta衍射角、chi起始角、chi步进角、chi终止角、phi起始角、phi步进角、phi终止角、测量模式、测量时间或监视器计数。

5.如权利要求4所述的中子织构衍射仪测控方法，其特征在于：步骤(2)中，根据选择的孤立衍射峰，通过峰形拟合法拟合衍射峰获得峰位的2theta衍射角，并选择两侧本底对应的2theta衍射角。

6.如权利要求1所述的中子织构衍射仪测控方法，其特征在于：步骤(3)中，测量一个晶面极图衍射角对应的中子计数的方法如下：将探测器的2theta轴移动至该晶面对应的衍射角，将欧拉环的omega轴移动至1/2衍射角，chi轴从其起始角到终止角按步进角Δ(chi)运动，在每一个chi角度，phi轴从其起始角到终止角按步进角Δ(phi)运动，在每一个chi和phi角度，固定每一个测量点的入射中子数，使用探测器采集中子计数。

7.如权利要求1所述的中子织构衍射仪测控方法，其特征在于：还包括自动替换效果不好的数据点的操作，具体方法如下：首先将原始文件中的测量参数读出，设置欧拉环的位置，调用探测器对该点进行中子计数测量，同时，根据该点的坐标判断该点数据在原始数据中的位置，测量结束后，由新的测量值替换原始数据中相应的测量值，并保存文件。

8.一种中子织构衍射仪测控系统，包括：

探测器计数模块：用于通过监视器连续记录一段时间内的中子数，以查看中子束流的稳定性，根据中子束流的稳定性确定探测器计数的测量模式；

衍射谱扫描模块：通过扫描样品的衍射谱，并查看晶面的衍射峰及其孤立程度，将孤立的衍射峰对应的晶面作为极图测量的对象；

极图测量模块：针对每个待测量的晶面极图，测量其衍射角对应的中子计数，以及衍射角两侧本底对应的中子计数；

运动控制模块：用于控制欧拉环的omega轴、chi轴、phi轴和探测器的2theta轴的转动；

数据采集模块：用于对监视器和探测器的计数进行采集；

重测数据点模块：用于对效果不好的数据点进行重新测量并自动替换测量数据。