[发明专利]一种适应温度压强变化的气体幅射谱不变特征提取方法有效
申请号: | 201110181499.7 | 申请日: | 2011-06-30 |
公开(公告)号: | CN102346129A | 公开(公告)日: | 2012-02-08 |
发明(设计)人: | 张天序;郑珍珠;方正;张伟;杨卫东;颜露新;徐利成;王娟;付平 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 适应 温度 压强 变化 气体 幅射 不变 特征 提取 方法 | ||
1.一种基于幅射谱特征提取的气体目标识别方法,涉及用以匹配的指纹图库,谱指纹图库包含对多个参考谱分别采用一维曲率尺度空间描述方法生成的指纹图,该方法具体为:
(1)对气体目标谱采用一维曲率尺度空间描述方法生成指纹图;
(2)分别提取目标谱指纹图和指纹图库中所有参考谱指纹图的指纹特征,所述指纹特征为指纹图中拱形顶点的二维坐标值;
(3)更新参考谱指纹图Ri的所有拱形顶点的Y轴坐标值为其与高度修正参数ki的乘积,其中,i=1,2…,N,N为参考谱总数,为第i个参考谱指纹图的拱形顶点中最大的Y轴坐标值,为目标谱指纹图的拱形顶点中最大的Y轴坐标值;
(4)在步骤(3)更新后的参考谱指纹图中,以拱形顶点位置最接近为标准搜寻与目标谱指纹图最匹配的参考谱指纹图Rm,并记录Rm的各拱形顶点分别与其在目标谱指纹图对应的拱形顶点的二维坐标值差异,对得到的二维坐标值差异求和得到匹配代价:
(5)若步骤(4)计算得到的匹配代价小于判别阈值,则判定气体目标为R对应的气体。
2.根据权利要求1所述气体目标识别方法,其特征在于,所述步骤(4)具体为:
(41)对目标谱指纹图和步骤(3)更新后的参考谱指纹图的所有拱形顶点二维坐标值分别进行归一化处理;
(42)归一化处理后,目标谱指纹图中最大Y轴坐标值的拱形顶点To与参考谱指纹图Ri中最大Y轴坐标值的拱形顶点构成初始节点i=1,2…,N;
(43)计算初始节点中To与的二维坐标值差异标记拱形顶点To和
(44)从i=1,2…,N中选出最小者其对应参考谱指纹图记为Rm;若目标谱和Rm均存在未标记拱形顶点,进入步骤(45),若仅有目标谱或仅有参考谱指纹图Rm存在未标记拱形顶点,进入步骤(46),若目标谱和参考谱指纹图Rm均不存在未标记拱形顶点,进入步骤(47);
(45)分别在目标谱和参考谱指纹图Rm内未标记的拱形顶点中寻找Y轴坐标值最大的拱形顶点构成节点,计算该节点中两顶点的二维坐标值差异Δ,更新标记该节点中的两拱形顶点,返回步骤(44);
(46)计算目标谱或参考谱指纹图Rm中的未标记拱形顶点的二维坐标值之和Δ,更新标记这些未标记拱形顶点,返回步骤(44);
(47)记Rm为目标谱指纹图最匹配的参考谱指纹图,为匹配代价,结束。
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