[发明专利]颗粒物料相对圆整度测定装置及测定方法

权利要求书

1.一种颗粒物料相对圆整度测定装置，其特征是：包括滚动斜槽(1)和计量平槽(2)，所述的计量平槽(2)上设置水平仪(4)，所述的滚动斜槽(1)的倾斜角度可调并与计量平槽(2)紧密对接，计量平槽(2)底部设置高度及水平调节装置(8)。

2.根据权利要求1所述的颗粒物料相对圆整度测定装置，其特征是：所述的滚动斜槽(1)与计量平槽(2)通过转轴(7)实现转动连接，所述的滚动斜槽(1)下部设置角度调整装置(6)，滚动斜槽(1)倾斜角度为10～50°。

3.根据权利要求1所述的颗粒物料相对圆整度测定装置，其特征是：所述的计量平槽(2)上纵向设置以滚动斜槽(1)与计量平槽(2)相接线为0点的长度标尺。

4.根据权利要求1所述的颗粒物料相对圆整度测定装置，其特征是：所述的滚动斜槽(1)上部设置启动挡板(5)；所述的启动挡板(5)垂直于滚动斜槽(1)设置，与滚动斜槽(1)的侧壁滑动配合。

5.根据权利要求1-4任意一项所述的颗粒物料相对圆整度测定装置，其特征是：所述的滚动斜槽(1)具有低摩擦阻力的平整、均匀、光洁的表面，滚动斜槽(1)长宽比为0.025～20，深度≥0.2cm。

6.根据权利要求1-4任意一项所述的颗粒物料相对圆整度测定装置，其特征是：所述的计量平槽(2)具有低摩擦阻力的平整、均匀、光洁的表面，计量平槽(2)长宽比为0.05～30，深度≥0.2cm。

7.根据权利要求1-4任意一项所述的颗粒物料相对圆整度测定装置，其特征是：所述的滚动斜槽(1)底面为平面或者上下方向呈下凹弧形。

8.一种利用权利要求1所述的测定装置测定颗粒物料相对圆整度的方法，包括以下步骤：

(1)仪器调整准备

调整好所述测定装置的滚动斜槽倾角，并放好启动挡板，将计量平槽调整至水平，备用；

(2)测定各个粒径区间标准样品的滚动距离

制取各个粒径区间的标准样品：准备一套孔径为1.00mm、1.50mm、2.00mm、2.50mm、3.00mm、3.50mm、4.00mm的试验筛，按孔径大小依次叠好，装上底盘，称取颗粒样品1000克，置于4.00mm的筛子上，盖好筛盖，置于振荡器上，振荡5min，分别得到1.00mm～1.50mm、1.50mm～2.00mm、2.00mm～2.50mm、2.50mm～3.00mm、3.00mm～3.50mm和3.50mm～4.00mm各个粒径区间的颗粒物料；从各个粒径区间物料中，分别挑选出接近于正球型的颗粒各30粒，分别作为各个粒径区间的标准样品；

测定不同粒径区间标准样品的滚动距离：将一个粒径区间的标准样品分成6组，每次测定5个颗粒的滚动距离；将5个颗粒等距放置于启动挡板上，平稳抽开启动挡板，5个颗粒同时沿滚动斜槽的坡面自由滚落并沿计量平槽继续滚动直至停止，分别测量各个颗粒在计量平槽上的滚动距离；重复以上操作，测定完成各个粒径区间的标准样品的滚动距离，然后分别计算各个粒径区间各30个标准样品滚动距离的平均值L_0n，n＝1～6；

(3)测定各个粒径区间待测样品的质量分率和滚动距离

测定待测样品的质量分率：准确称取200克待测样品颗粒，精确到0.01g，按步骤(2)所述的方法进行振荡筛分，得到相应的各个粒径区间的待测样品颗粒；分别称量各粒径区间内待测样品的质量m_n，n＝1～6，然后根据公式A_n＝(m_n/m)×100％，计算各粒径区间待测样品的质量分率，上式中的m为待测样品总质量；

测定待测样品的滚动距离：从各个粒径区间的待测样品颗粒中，各随机取出30粒，并按步骤(2)所述的方法测定完成各个粒径区间的待测样品的滚动距离，然后分别计算各粒径区间30个待测样品滚动距离的平均值L_n，n＝1～6；

(4)计算

A.先计算标准样品滚动距离的基准值L₀：

L0=Σi=130L0130×A1+Σi=130L0230×A2+Σi=130L0330×A3+Σi=130L0430×A4+Σi=130L0530×A5+Σi=130L0630×A6]]>

B.再计算待测样品滚动距离的数值L_s：

Ls=Σi=130L130×A1+Σi=130L230×A2+Σi=130L330×A3+Σi=130L430×A4+Σi=130L530×A5+Σi=130L630×A6]]>

C.最后计算待测样品的相对圆整度Q，相对圆整度的最大值为1∶Q＝L₀/L_s。

9.根据权利要求8所述的测定颗粒物料相对圆整度的方法，其特征在于：当物料种类、等级、生产原料、生产工艺控制条件或产品粒度控制范围发生变化时，或是每隔2～3个月，对标准样品的滚动距离基准值L₀重新进行校正测定一次。