[发明专利]颗粒物料相对圆整度测定装置及测定方法

说明书

技术领域

本发明属于颗粒物料外观质量测定技术领域，具体涉及一种结构简单、操作方便、适合测量颗粒物料，尤其适合于测量直径≥1mm的颗粒物料相对圆整度的测定装置。同时，本发明还涉及运用所述测定装置测定颗粒物料相对圆整度的方法。

背景技术

目前，颗粒肥料行业不仅重视产品的内在质量，而且随着生产工艺技术的提高，市场竞争的激烈，外观质量也逐渐被人们所关注。各类标准中，对颗粒肥料外观的描述长期采用粒度指标(1～4mm颗粒所占质量分率≥90％)，但是粒度指标合格率为100％的产品中，仍然存在颗粒不圆整等问题。为了满足客户和市场需求，引入了颗粒物料相对圆整度的概念，该指标是对颗粒物料外观圆整程度的量化，能很好地表征颗粒肥料的外观质量。

颗粒物料理论上的最佳圆整度为最大直径与最小直径之比为1，即正圆球体。由于受到测定装置发展的限制，多数肥料生产企业对颗粒圆整度的评价还仅仅凭借技术人员的感观判断，很难做到产品圆与不圆的量化评价。在国外，其他行业采用光学成像系统进行颗粒粒度、粒形分析、测定，但配置一套设备约需50万元人民币，且操作复杂，投资及运行、维护费用高；此外，该类设备主要适用于≤1mm颗粒产品的粒度、粒形分析。因此，开发结构简单、操作方便，适用范围更广的颗粒物料相对圆整度测定装置，非常必要。

发明内容

本发明的第一目的在于克服现有技术不足，提供一种结构简单、操作方便的，适用于粒径≥1mm的颗粒物料相对圆整度测定装置。

本发明的目的还在于提供一种利用所述测定装置对颗粒物料相对圆整度进行测定的方法。

本发明的第一目的是这样实现的：包括滚动斜槽和计量平槽，所述的计量平槽上设置水平仪，所述的滚动斜槽的倾斜角度可调并与计量平槽紧密对接，计量平槽底部设置高度及水平调节装置。

可以根据每次需要同时测定的颗粒数量的多少来确定滚动斜槽和计量平槽的宽度，可以根据被测颗粒物料的密度、粒径和质量大小以及圆整度情况来确定的滚动斜槽、计量平槽的长度以及滚动斜槽的倾斜角度，滚动斜槽、计量平槽的长度和宽度确定时，长宽比也随之确定。

本发明的另一目的是这样实现的，包括下列步骤：

以颗粒粒径控制范围是1-4mm的肥料产品以及以0.50mm作为各个粒径区间的间隔为例：

(1)仪器调整准备

调整好所述测定装置的滚动斜槽倾角，并放好启动挡板，将计量平槽调整至水平，备用；

(2)测定各个粒径区间标准样品的滚动距离

制取各个粒径区间的标准样品：准备一套孔径为1.00mm、1.50mm、2.00mm、2.50mm、3.00mm、3.50mm、4.00mm的试验筛，按孔径大小依次叠好，装上底盘，称取颗粒样品1000克，置于4.00mm的筛子上，盖好筛盖，置于振荡器上，振荡5min，分别得到1.00mm～1.50mm、1.50mm～2.00mm、2.00mm～2.50mm、2.50mm～3.00mm、3.00mm～3.50mm和3.50mm～4.00mm各个粒径区间的颗粒物料。从各个粒径区间物料中，分别挑选出接近于正球型的颗粒各30粒，分别作为各个粒径区间的标准样品；

测定各个粒径区间标准样品的滚动距离：将一个粒径区间的标准样品分成6组，每次测定5个颗粒的滚动距离；将5个颗粒等距放置于启动挡板上，平稳抽开启动挡板，5个颗粒同时沿滚动斜槽的坡面自由滚落并沿计量平槽继续滚动直至停止，分别测量各个颗粒在计量平槽上的滚动距离；重复以上操作，测定完成各个粒径区间的标准样品的滚动距离，然后分别计算各个粒径区间各30个标准样品滚动距离的平均值L_0n，n＝1～6；

(3)测定各个粒径区间待测样品的质量分率和滚动距离

测定待测样品的质量分率：准确称取200克(精确到0.01g)待测样品颗粒，按步骤(2)所述的方法进行振荡筛分，得到相应的各个粒径区间的待测样品颗粒；分别称量各粒径区间内待测样品的质量m_n，n＝1～6，然后根据公式A_n＝(m_n/m)×100％，计算各粒径区间待测样品的质量分率，上式中的m为待测样品总质量；

测定待测样品的滚动距离：从各个粒径区间的待测样品颗粒中，各随机取出30粒，并按步骤(2)所述的方法测定完成各个粒径区间的待测样品的滚动距离，然后分别计算各粒径区间30个待测样品滚动距离的平均值L_n，n＝1～6；

(4)计算

A.先计算标准样品滚动距离的基准值L₀：