[发明专利]阵列测试装置无效
申请号: | 201110184854.6 | 申请日: | 2011-07-04 |
公开(公告)号: | CN102540509A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 朴廷喜 | 申请(专利权)人: | 塔工程有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G01R1/073 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 张文;郭放 |
地址: | 韩国庆*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 测试 装置 | ||
1.一种具有探针组件的阵列测试装置,所述探针组件包括:
探针棒,所述探针棒配备有设置在所述探针棒上的多个探针引脚;以及
电信号施加单元,所述电信号施加单元选择性地将电信号施加给与玻璃面板上的电极的布置方式相对应的探针引脚。
2.如权利要求1所述的阵列测试装置,其中所述电信号施加单元包括:
电信号发生器,所述电信号发生器产生电信号;
第一连接线,所述第一连接线将所述电信号发生器连接至具有第一布置类型的第一类型探针引脚;
第一开关,所述第一开关设置在所述第一连接线上,所述第一开关允许将所述电信号发生器产生的电信号施加给所述第一类型探针引脚或中断所述施加;
第二连接线,所述第二连接线将所述电信号发生器连接至具有第二布置类型的第二类型探针引脚;
第二开关,所述第二开关设置在所述第二连接线上,所述第二开关允许将所述电信号发生器产生的电信号施加给所述第二类型探针引脚或中断所述施加;以及
控制器,所述控制器控制所述第一开关和所述第二开关的操作。
3.如权利要求1所述的阵列测试装置,其中所述多个探针引脚之中的至少一个探针引脚是与两种或更多种布置类型的电极共同对应的公共探针引脚。
4.如权利要求3所述的阵列测试装置,其中所述电信号施加单元包括:
电信号发生器,所述电信号发生器产生电信号;
第一连接线,所述第一连接线将所述电信号发生器连接至具有第一布置类型的第一类型探针引脚;
第一开关,所述第一开关设置在所述第一连接线上,所述第一开关允许将所述电信号发生器产生的电信号施加给所述第一类型探针引脚或中断所述施加;
第二连接线,所述第二连接线将所述电信号发生器连接至具有第二布置类型的第二类型探针引脚;
第二开关,所述第二开关设置在所述第二连接线上,所述第二开关允许将所述电信号发生器产生的电信号施加给所述第二类型探针引脚或中断所述施加;
第三连接线,所述第三连接线将所述电信号发生器连接至所述公共探针引脚;
第三开关,所述第三开关设置在所述第三连接线上,所述第三开关允许将所述电信号发生器产生的电信号施加给所述公共探针引脚或中断所述施加;以及
控制器,所述控制器控制所述第一开关、所述第二开关和所述第三开关的操作。
5.如权利要求1至4中的任何一项所述的阵列测试装置,其中所述探针组件上设置有旋转单元,使得所述探针棒能够旋转。
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