[发明专利]阵列测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于测试玻璃面板的阵列测试装置。

背景技术

一般来说，平板显示器(FPD)是比具有布劳恩显像管(Braun Tube)的传统电视机或显示器薄而且轻的图像显示器。液晶显示器(LCD)、等离子体显示面板(PDP)、场致发射显示器(FED)以及有机发光二极管(OLED)是已开发并使用的平板显示器的代表实例。

这种FPD中的LCD是以向排列为矩阵形状的液晶单元独立地提供基于图像信息的数据信号来控制液晶单元的透光性的方式来显示预期图像的图像显示器。LCD薄且轻，而且还具有包括功耗低以及操作电压低在内的许多其它优点，因此被广泛地使用。下面将详细描述用在这种LCD中的液晶面板的典型制造方法。

首先，在上玻璃面板上形成彩色滤光片和共用电极。之后，在与上玻璃面板相对的下玻璃面板上形成薄膜晶体管(TFT)和像素电极。

随后将配向层分别涂布至上玻璃面板和下玻璃面板。之后摩擦配向层以便为随后在配向层之间形成的液晶层中的液晶分子提供预倾角和配向方位。

此后，通过将密封胶涂布至玻璃面板中的至少一个来形成密封胶图案，以保持玻璃面板间的间隙、防止液晶漏出、以及密封玻璃面板间的间隙。随后，在玻璃面板之间形成液晶层，从而完成液晶面板。

在上述过程中，测试具有TFT和像素电极的下玻璃面板(下文中称为“玻璃面板”)是否有缺陷的操作，是通过例如检测栅极线或数据线是否断线或者检测像素单元是否显色不佳来实现的。

典型地，使用具有多个探针引脚的阵列测试装置来测试玻璃面板。利用阵列测试装置来对玻璃面板进行测试包括：将探针引脚置于对应于形成在玻璃面板上的电极的位置、在压力下将探针引脚与电极接触、以及然后将电信号通过探针引脚施加至电极。

设置在玻璃面板上的电极的位置以及电极的布置方式，也就是说，电极的数量以及各相邻电极之间的距离，对于不同种类的玻璃面板而言是不同的。因此，利用单个阵列测试装置来测试多种类型的玻璃面板必须包括：将探针组件更换为具有与待测试玻璃面板的电极的位置和布置方式对应的探针引脚的另一个探针组件。然而，当测试多种类型的玻璃面板时，为了测试目的将探针组件更换为具有与玻璃面板的电极的位置和布置方式对应的探针引脚的另一个探针组件导致降低处理效率的问题。

发明内容

因此，针对以上现有技术中产生的问题提出本发明，并且本发明的目的是提供一种阵列测试装置，其能够在即使仅使用单个阵列装置的情况下也能有效地测试具有不同的电极位置、布置方式和布置方位的不同种类的玻璃面板。

为了实现以上目的，本发明提供一种具有探针组件的阵列测试装置，所述探针组件包括：探针棒，其配备有设置在探针棒上的多个探针引脚；以及电信号施加单元，其选择性地将电信号施加给与玻璃面板上的电极的布置方式相对应的探针引脚。

附图说明

由以下结合附图的详细描述，将更加清楚地理解本发明前述的和其他的目的、特征和优点，其中：

图1是图示根据本发明第一个实施方式的阵列测试装置的立体图；

图2是图1的阵列测试装置的探针组件的立体图；

图3和图4是图示图2的探针组件的立体图；

图5和图6是图示图3的探针组件的探针棒和探针引脚的示意图；以及

图7和图8是图示根据本发明第二个实施方式的阵列测试装置中的探针组件的探针棒和探针引脚的示意图。

具体实施方式

下文将参照附图详细说明根据本发明的阵列测试装置的实施方式。

如图1所示，根据本发明第一个实施方式的阵列测试装置包括将玻璃面板P加载到所述装置上的加载单元10、测试由加载单元10加载的玻璃面板P的测试单元20、以及将已由测试单元20测试的玻璃面板P从所述装置卸载的卸载单元30。

测试单元20测试玻璃面板P的电缺陷。测试单元20包括透光支撑板21、测试模块22、探针组件23以及控制单元(未示出)。由加载单元10加载的玻璃面板P放置在透光支撑板21上。测试模块22测试放置在透光支撑板21上的玻璃面板P的电缺陷。探针组件23向放置在透光支撑板21上的玻璃面板P的电极E施加电信号。控制单元控制测试模块22和探针组件23。