[发明专利]用于计量部件的数量的装置及用于计量部件的数量的方法

说明书

相关申请的交叉引用 

要求以下本国优先权申请和外国优先权申请的权益，并将这些优先权申请通过引证结合于此。 

“相关申请的交叉引用” 

根据美国法典第35篇第119条，本申请要求2011年3月9日提交的韩国专利申请No.10-2011-0020901的权益，其内容整体通过引证结合到本申请中。 

技术领域

本发明涉及一种用于计量部件的数量的装置，更具体地，本发明涉及这样一种用于计量部件的数量的装置，即，本装置能够通过自动地计量装载到托盘上的多个部件的数量以提高计量部件的数量的工序的效率来降低制造成本并提高生产率。 

背景技术

一般来说，在各工序之间需要计量部件的数量的工序来计量诸如MLCC和半导体芯片的小部件的数量，以便进行遗失管理。 

通常地，小部件的数量的计量使用通过取样称重法(sampling weightmethod)的数量计量方法或通过完全称重法(simple weight method)的数量计量方法。 

取样称重法通过计量为了计量部件的总数量而取样的一些部件的重量并将取样的部件的重量换算成部件的总重量来计量部件的总数量。 

然而，当通过取样称重法来计量部件的总数量时，难于对小于约400μm的部件执行取样计量，并且部件越小越轻，在将取样的部件的重量换算成部件的总重量的过程中误差率就越高。因此，由于存在与误差率相对应的数量那么多的部件的遗失，因此难于管理部件的总数量。 

因此，对于轻且小的部件，由于难于通过取样精确地计量部件的总数量，因此完全称重法通过将相对应的一个部件的平均重量换算成部件的总重量来计量部件的总数量。 

然而，由于诸如半导体芯片的部件变得精制且更小，因此即使通过完全称重法也难于精确地计量部件的总数量。因此，已需要研发出一种能够一个一个地(by ones)精确地计量部件的总数量的用于计量部件的数量的装置。 

如上所述的，当由于工序之间的对部件的总数量的不精确计量而导致数量计量中的误差率较高时，存在由于部件的遗失所造成的成本损失而导致降低生产率的问题。 

发明内容

为了克服上述问题而发明了本发明，因此，本发明的一个目的是提供这样一种用于计量部件的数量的装置，即，本装置能够通过自动地、快速地且精确地计量装载到托盘上的多个部件的数量以提高计量部件的数量 的工序的效率而容易地管理部件的遗失、防止或减小由于部件的遗失而导致的成本损失、并提高生产率。 

为了实现该目的，根据本发明的一个方面，提供了一种用于计量部件的数量的装置，包括：扫描单元，用于用激光扫描装载有多个部件的托盘，以产生用于计量所装载的多个部件的数量的信号束；以及检测单元，用于通过接收所述信号束来检测所装载的多个部件的数量。 

这里，所述多个部件可沿托盘的平面X轴方向和Y轴方向装载，并且所述扫描单元可沿托盘的平面X轴方向和Y轴方向中的一者执行行扫描(line scanning)并沿托盘的平面X轴方向和Y轴方向中的另一者执行行扫描。 

并且，所述扫描单元可包括：激光束辐照器，用于发射激光扫描所用的激光束；以及扫描器，用于向托盘发射入射激光束以用激光扫描托盘并在激光扫描期间接收从所装载的多个部件反射的反射束以向检测单元发射所述反射束。 

此外，所述检测单元可包括：检测器，用于通过接收从扫描器发射的反射束并检测与所述反射束相对应的反射束信号来计量所装载的多个部件的数量。 

此时，用于计量部件的数量的装置可包括：分束器，设置在激光束辐照器与扫描器之间，以将从激光束辐照器发射的激光束引向扫描器并将从扫描器发射的反射束引向检测器，其中，所述检测器可设置在分束器的一侧处，以接收由所述分束器反射的反射束。 

此外，用于计量部件的数量的装置可进一步包括：透镜，设置在扫描器的发射侧处，以允许从扫描器发射的激光束均匀地射向托盘。 

同时，为了实现该目的，根据本发明的另一方面，提供了一种用于计量部件的数量的方法，包括：扫描步骤，用激光扫描装载有多个部件的托盘，以产生用于计量所装载的多个部件的数量的信号束；以及数量检测步骤，通过接收所述信号束来检测所装载的多个部件的数量。 

附图说明

从以下结合附图对实施例的描述中，本发明的总发明构思的这些和/或其他方面和优点将变得显而易见且更容易理解，附图中： 

图1是概略地示出了根据本发明的用于计量部件的数量的装置的实施例的透视图；