[发明专利]触摸屏面板上的位置检测方法、触摸屏面板及初始化方法有效

专利信息
申请号: 201110197703.4 申请日: 2011-07-15
公开(公告)号: CN102346616A 公开(公告)日: 2012-02-08
发明(设计)人: 藤田宪一;樱井聪;长谷川洋;羽山正伸 申请(专利权)人: 富士通电子零件有限公司
主分类号: G06F3/045 分类号: G06F3/045
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 申发振
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 触摸屏 面板 位置 检测 方法 初始化
【权利要求书】:

1.一种检测触摸屏面板上的位置的方法,所述触摸屏面板包括第一电阻膜和第二电阻膜,所述第一电阻膜具有设置在其沿着第一方向的相应端处的第一电极和第二电极,所述第二电阻膜具有设置在其沿着与第一方向垂直的第二方向的相应端处的第三电极和第四电极,所述方法包含:

(a)通过将电源电压施加于具有与第一电极连接的第二端的第一电阻器的第一端,并将第二电极接地,测量第一电极处的电位;

(b)通过将电源电压施加于具有与第三电极连接的第二端的第二电阻器的第一端,并将第四电极接地,测量第三电极处的电位;

(c)通过将电源电压施加于第一电极,并将第二电极接地,测量第三电极处的电位和第四电极处的电位;以及

(d)通过将电源电压施加于第三电极,并将第四电极接地,测量第一电极处的电位和第二电极处的电位。

2.如权利要求1所述的方法,进一步包含:

(e)确定在所述测量(a)中测量的电位是否基本等于第一分压值,所述第一分压值是通过第一电阻器与第一电极和第二电极之间的电阻之间的分压而获得的;

(f)确定在所述测量(b)中测量的电位是否基本等于第二分压值,所述第二分压值是通过第二电阻器与第三电极和第四电极之间的电阻之间的分压而获得的;以及

(g)根据所述确定(e)的结果和所述确定(f)的结果确定触摸屏面板上的接触点的数量是一个还是两个。

3.如权利要求2所述的方法,进一步包含:

响应于所述确定(g)确定触摸屏面板上的接触点的数量是两个,

(h)根据在所述测量(a)中测量的电位与第一分压值之间的差值,计算触摸屏面板上的两个接触点在第一方向上的距离;以及

(i)根据在所述测量(b)中测量的电位与第二分压值之间的差值,计算触摸屏面板上的两个接触点在第二方向上的距离。

4.如权利要求3所述的方法,进一步包含:

在所述测量(a)和所述测量(b)之前,在触摸屏面板上的接触点的数量是零个或一个的情况下,

(j)通过将电源电压施加于具有与第一电极连接的第二端的第一电阻器的第一端,并将第二电极接地,测量第一电极处的初始电位;

(k)通过将电源电压施加于具有与第三电极连接的第二端的第二电阻器的第一端,并将第四电极接地,测量第三电极处的初始电位;以及

(l)如果在所述测量(a)中测量的电位低于在所述测量(j)中测量的初始电位,而在所述测量(b)中测量的电位基本等于在所述测量(k)中测量的初始电位,则确定两个接触点与第一方向基本平行,或如果在所述测量(a)中测量的电位基本等于在所述测量(j)中测量的初始电位,而在所述测量(b)中测量的电位低于在所述测量(k)中测量的初始电位,则确定两个接触点与第二方向基本平行。

5.如权利要求3所述的方法,进一步包含:

(j)如果在所述测量(b)中测量的电位高于在所述测量(a)中测量的电位,则确定两个接触点与第一方向基本平行,或如果在所述测量(b)中测量的电位低于在所述测量(a)中测量的电位,则确定两个接触点与第二方向基本平行。

6.如权利要求3所述的方法,进一步包含:

(j)如果在所述测量(c)中第三电极处的测量电位高于第四电极处的测量电位,则确定两个接触点中的第一个比所述两个接触点中的第二个更接近第一电极且更接近第三电极,或如果在所述测量(c)中第三电极处的测量电位低于第四电极处的测量电位,则确定两个接触点中的第一个比所述两个接触点中的第二个更接近第二电极且更接近第三电极。

7.如权利要求3所述的方法,进一步包含:

(j)如果在所述测量(c)中第三电极处的测量电位和第四电极处的测量电位基本相等,则确定两个接触点与第一方向和第二方向中的一个基本平行。

8.如权利要求3所述的方法,进一步包含:

(j)如果在所述测量(d)中第一电极处的测量电位高于第二电极处的测量电位,则确定两个接触点中的第一个比所述两个接触点中的第二个更接近第一电极且更接近第三电极,或如果在所述测量(d)中第一电极处的测量电位低于第二电极处的测量电位,则确定两个接触点中的第一个比所述两个接触点中的第二个更接近第二电极且更接近第三电极。

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