[发明专利]触摸屏面板上的位置检测方法、触摸屏面板及初始化方法

说明书

交叉参考相关申请

本申请基于如下日本专利申请并要求该日本专利申请的优先权权益：2010年7月22日提交的日本专利申请第2010-165325号、2010年9月28日提交的日本专利申请第2010-217560号、和2010年10月27日提交的日本专利申请第2010-241370号，在此通过引用将它们的全部内容并入本申请中。

技术领域

本发明涉及检测触摸屏面板上的位置的方法、触摸屏面板、和初始化触摸屏面板的方法。

背景技术

当前流行的电子装置通常包括触摸屏面板。触摸屏面板使信息可以通过用手指等直接在触摸屏面板上触摸而输入电子装置中。作为简便的信息输入设备，预期触摸屏面板将来会越来越流行。

大多数常用触摸屏面板被配置成响应在单点处的触摸(接触)来检测接触位置。因而，如果在两个点或更多点处触摸，这些触摸屏面板就无法检测接触点的精确位置信息。因此，需要一种在存在两个接触点的情况下可以精确检测每个接触点的位置信息的方法。

例如，下面列出的专利文献1～19公开了在在两个点处接触触摸屏面板的情况下检测接触点的各种方法。例如，公开了像使用第一接触与第二接触之间的微小时差的方法、将电阻器与触摸屏面板的导电膜连接的方法、和在X和Y电极之间施加电压的方法那样的各种方法。

此外，专利文献12公开了在在两个点处按压触摸屏面板的情况下检测有关两个点之间的距离的信息的方法。此外，专利文献14公开了含有分开的电阻膜的触摸屏面板。此外，专利文献17公开了使用两对电阻膜的触摸屏面板。此外，专利文献18和19公开了在单点输入时校正失真的方法。

[专利文献1]日本专利第3402858号；

[专利文献2]日本已公开专利申请第2009-289157号；

[专利文献3]日本专利第3397519号；

[专利文献4]日本已公开专利申请第8-54976号；

[专利文献5]日本已公开专利申请第3-77119号；

[专利文献6]日本已公开专利申请第10-171581号；

[专利文献7]日本已公开专利申请第11-95929号；

[专利文献8]日本已公开专利申请第1-269120号；

[专利文献9]日本已公开专利申请第8-241161号；

[专利文献10]日本已公开专利申请第8-54977号；

[专利文献11]日本已公开专利申请第2007-156875号；

[专利文献12]日本已公开专利申请第2009-176114号；

[专利文献13]日本专利第3351080号；

[专利文献14]日本已公开专利申请第9-45184号；

[专利文献15]日本已公开专利申请第2005-49978号；

[专利文献16]日本已公开专利申请第2010-102627号；

[专利文献17]日本已公开专利申请第11-232023号；

[专利文献18]日本已公开专利申请第2001-67186号；以及

[专利文献19]日本专利第2554577号。

发明内容

按照本发明的一个方面，提供了检测触摸屏面板上位置的方法，触摸屏面板包括第一电阻膜和第二电阻膜，所述第一电阻膜具有设置在其沿着第一方向的相应端处的第一电极和第二电极，所述第二电阻膜具有设置在其沿着与第一方向垂直的第二方向的相应端处的第三电极和第四电极，所述方法包括：(a)通过将电源电压施加于具有与第一电极连接的第二端的第一电阻器的第一端，并将第二电极接地，测量第一电极处的电位；(b)通过将电源电压施加于具有与第三电极连接的第二端的第二电阻器的第一端，并将第四电极接地，测量第三电极处的电位；(c)通过将电源电压施加于第一电极，并将第二电极接地，测量第三电极处的电位和第四电极处的电位；以及(d)通过将电源电压施加于第三电极，并将第四电极接地，测量第一电极处的电位和第二电极处的电位。