[发明专利]测量硅基液晶成像芯片光电特性曲线的装置

权利要求书

1.一种测量硅基液晶成像芯片光电特性曲线的装置，其特征在于，包括光源、光处理系统、起偏器、光阀、分光棱镜PBS、玻片、定位夹具、微调平台、光探测器、数据采集卡、驱动板、电脑；

所述光处理系统、起偏器、光阀、分光棱镜PBS、玻片按先后顺序设置在所述光源的光路上，所述玻片之后安装所述定位夹具，所述定位夹具安装在所述微调平台上，所述硅基液晶成像芯片垂直于所述光路固定在所述定位夹具上，所述硅基液晶成像芯片的反射面朝向所述玻片，所述硅基液晶成像芯片连接所述驱动板，所述驱动板连接所述电脑，所述光探测器的光探测端对准所述分光棱镜PBS反射出的S偏振光，所述光探测器通过电信号线连接所述数据采集卡，所述数据采集卡连接所述电脑。

2.根据权利要求1所述的测量硅基液晶成像芯片光电特性曲线的装置，其特征在于，所述定位夹具上设有真空吸盘，所述硅基液晶成像芯片通过所述真空吸盘吸附在所述定位夹具上。

3.根据权利要求1或2所述的测量硅基液晶成像芯片光电特性曲线的装置，其特征在于，所述微调平台上设有位置调整旋钮，通过所述位置调整旋钮可调整所述微调平台在垂直于所述光路的平面内的上下左右位置。

4.根据权利要求3所述的测量硅基液晶成像芯片光电特性曲线的装置，其特征在于，还包括柔性电路板，所述柔性电路板连接所述定位夹具，所述驱动板通过柔性电路板连接所述硅基液晶成像芯片。

5.根据权利要求3所述的测量硅基液晶成像芯片光电特性曲线的装置，其特征在于，所述定位夹具上设有若干定位柱，所述定位柱从上、左、右三个方向定位所述硅基液晶成像芯片。

6.根据权利要求4所述的测量硅基液晶成像芯片光电特性曲线的装置，其特征在于，所述定位夹具上设有若干定位柱，所述定位柱从上、左、右三个方向定位所述硅基液晶成像芯片。

7.根据权利要求1所述的测量硅基液晶成像芯片光电特性曲线的装置，其特征在于，所述光阀通过的P偏振光的直径为1.5-2mm。