[发明专利]用于清洗表面粗糙度测试机的滑行体的方法无效
申请号: | 201110198141.5 | 申请日: | 2011-07-15 |
公开(公告)号: | CN102335661A | 公开(公告)日: | 2012-02-01 |
发明(设计)人: | 松宫贞行;滨伸行 | 申请(专利权)人: | 株式会社三丰 |
主分类号: | B08B7/04 | 分类号: | B08B7/04;B08B5/04;B08B5/02;B08B3/12 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 曲莹 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 清洗 表面 粗糙 测试 滑行 方法 | ||
1.一种用于清洗表面粗糙度测试机的滑行体的方法,所述表面粗糙度测试机包括沿竖直方向设置有滑行体孔口的滑行体、和设置在所述滑行体的滑行体孔口中并且能够沿竖直方向移动的触针,其中所述表面粗糙度测试机通过沿物体的表面移动所述滑行体来测量物体的表面粗糙度,所述方法包括:
在对物体的表面粗糙度测量完成后,去除存在于所述滑行体孔口与所述触针之间的间隙中的异物的去除步骤。
2.如权利要求1所述的方法,其中,所述去除步骤包括以下步骤中的至少一个:
通过与所述滑行体的下表面接触的抽吸垫抽吸所述滑行体;
向所述间隙喷射清洗用压缩空气;和
经由浸泡所述滑行体的清洗流体向所述间隙传送超声波。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社三丰,未经株式会社三丰许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110198141.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:接触结构及半导体器件
- 下一篇:一种中继节点的通信状态处理方法及中继节点设备