[发明专利]用于清洗表面粗糙度测试机的滑行体的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于清洗表面粗糙度测试机的滑行体(skid)的方法。

背景技术

对机械加工后的工件的表面粗糙度的测量在确认加工条件的质量、刀具磨损、损坏情形等方面的工艺管理中十分重要。近年来，在机床上对工件的表面粗糙度进行测量的需求已相应地增大，以通过在加工好工件后立即判断工艺管理的质量来防止劣质工件的流出。

对于这些需求，作为适于在工件的机床上对加工好的工件的表面粗糙度进行测量的表面粗糙度测试机，已知这样一种表面粗糙度测试机(见例如日本专利平成4-60523号公报)。该表面粗糙度测试机在使触针跟随物体表面的同时移动触针，以电检测出并放大触针的位移量，从而表面粗糙度测试机测量出物体的表面粗糙度。

具体地说，该表面粗糙度测试机配备有用于测量物体的表面粗糙度的检测器、和设置有孔口的滑行体，该孔口位于检测器的端部并在其中配置有触针。滑行体的下表面(工件接触面)在测量时与物体(工件)接触。触针构造成能够在测量时在滑行体的孔口中移动，以便能够尽量对应于物体表面的倾斜量。

因为该表面粗糙度测试机具有这种构造，所以它能够通过跟随物体表面的凹凸来进行测量，因此该表面粗糙度测试机很难受到外部振动的影响。此外，该表面粗糙度测试机还具有测试机与物体的定位要求不严格以及测试机的姿势制约不严格的优点。

然而，通常，机械加工后的工件的表面会粘附例如冷却剂等异物。因此，存在这样的问题，当沿着粘附有异物的物体表面移动触针来进行表面粗糙度测量时，如图8所示，异物F会侵入滑行体12的滑行体孔口12a与触针13之间的间隙并粘着在那里，从而会导致测量性能下降。

发明内容

本发明的一个目的是提供一种用于清洗表面粗糙度测试机的滑行体的方法，其能够防止异物粘着于滑行体孔口与触针之间的间隙。

本发明的第一方面提供一种用于清洗表面粗糙度测试机的滑行体的方法，所述表面粗糙度测试机包括沿竖直方向设置有滑行体孔口的滑行体、和设置在所述滑行体的滑行体孔口中并且能够沿竖直方向移动的触针，其中所述表面粗糙度测试机通过沿物体的表面移动滑行体来测量物体的表面粗糙度，所述方法包括在对物体的表面粗糙度测量完成后，去除存在于所述滑行体孔口与所述触针之间的间隙中的异物的去除步骤。

此外，本发明的第二方面是一种根据第一方面的方法，其中所述去除步骤包括以下步骤中的至少一个：通过与所述滑行体的下表面接触的抽吸垫抽吸所述滑行体；向所述间隙喷射清洗用压缩空气；和经由浸泡所述滑行体的清洗流体向所述间隙传送超声波。

附图说明

虽然本发明通过以下详细描述和附图将得到更全面的理解，但是它们只起示例作用，本发明的范围并不局限于它们，附图中：

图1是本发明一实施例的表面粗糙度测试机的示意图；

图2是示出图1所示表面粗糙度测试机的检测部的截面图；

图3是示出图2所示检测部的端部的主要部分的放大图；

图4是根据本发明一实施例的用于清洗滑行体的方法的流程图；

图5是第一实施例的异物去除部的示意图；

图6是第二实施例的异物去除部的示意图；

图7是第三实施例的异物去除部的示意图；而

图8是用于说明常规表面粗糙度测试机的问题的视图。

具体实施方式

下面将参考附图来描述本发明的实施例。

(第一实施例)

首先将描述属于本发明的表面粗糙度测试机的构造。

表面粗糙度测试机100，如图1所示，包括检测部10、驱动部20等。

检测部10通过驱动部20的沿前后方向的驱动在待测物体上移动，以通过触针13检测物体的表面粗糙度(细微表面凹凸)。

具体地说，如图2和3所示，检测部10包括从驱动部20的前端部突出的检测部壳体11。在检测部壳体11中形成有空腔11a。在检测部壳体11的端部设置有滑行体12。

在滑行体12中从其后端部向前方形成有空腔12b。空腔12b在滑行体12附接至检测部壳体11的端部的状态下，连接至检测部壳体11的空腔11a。此外，在滑行体12中从滑行体12的下表面形成有滑行体孔口12a。滑行体孔口12a与空腔12b连接。从检测部壳体11的空腔11a的后侧到空腔12b配置有触针杆14。

触针杆14在其端部配备有朝下取向的触针13。触针13配置在滑行体孔口12a中。