[发明专利]一种三氯氢硅还原生产多晶硅循环氢气提纯处理方法有效
申请号: | 201110200460.5 | 申请日: | 2011-07-18 |
公开(公告)号: | CN102328906A | 公开(公告)日: | 2012-01-25 |
发明(设计)人: | 徐恒泳;唐春华;孙剑;董恩宁;侯守福 | 申请(专利权)人: | 中国科学院大连化学物理研究所 |
主分类号: | C01B3/56 | 分类号: | C01B3/56 |
代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人: | 马驰 |
地址: | 116023 *** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 三氯氢硅 还原 生产 多晶 循环 氢气 提纯 处理 方法 | ||
技术领域
本发明是一种三氯氢硅还原生产多晶硅循环氢气提纯处理方法。采用两组串联的金属钯复合膜氢气纯化器,对三氯氢硅还原循环氢气进行提纯处理,其中第一组金属钯复合膜氢气纯化器相对较大,提纯处理的超纯氢气(H2纯度>99.9999%)返回还原炉,用于三氯氢硅还原的原料气,而第二组纯化器相对较小,提纯处理的高纯氢气(H2纯度-99.999%)去冷氢化工段作为原料气。该方法提纯处理三氯氢硅还原循环氢气的回收率可以达到99%以上。利用该方法提纯的氢气生产多晶硅,可以明显提高多晶硅产品的纯度和质量,具有明显的节能减排效应。
背景技术
电子信息、半导体和光伏发电产业的迅猛发展,促进了多晶硅产业的迅速崛起。高纯度多晶硅是电子信息产业和半导体集成电路产业链的最初端,它的质量直接影响最终电子产品的性能。太阳能级多晶硅对纯度的要求相对较低,而下游光伏发电结果表明,随着多晶硅产品纯度的提升,不仅发电效率提高,而且发电寿命明显延长。目前,尽管国内在建、新建和扩建的多晶硅项目多达50余家,但所生产的产品质量远达不到半导体集成电路的要求,仍与国外知名企业的产品质量差距甚远。例如,德国瓦克的区熔电子级多晶硅的主要杂质硼和磷的含量分别小于0.05ppb和0.15ppb,而我国生产的多晶硅金属硼和磷含量明显高于这一指标。
改良西门子法(又称之为:第三代改良西门子法、或第三代西门子法)是生产多晶硅的主流技术,占据约75%的市场份额。该技术以三氯氢硅(SiHCl3)和氢气(H2)为原料,在高温(1080-1100℃)条件下生产多晶硅,其化学方程式如下:
SiHCl3+H2→Si+3HCl (1)
同时,SiHCl3所携带的痕量或超痕量杂质氯化硼(BCl3)和氯化磷(PCl3),在H2气氛下也以单质B和P的形式沉积在多晶硅上,对产品质量产生不良影响:
2BCl3+3H2→2B+6HCl (2)
2PCl3+3H2→2P+6HCl (3)
通过精馏可以使SiHCl3中的BCl3和PCl3降低到ppb级,受化学平衡的限制,ppb级的BCl3和PCl3在通过还原炉时,只有少部分(约15%)在多晶硅上沉积,大部分BCl3和PCl3将与未反应的原料SiHCl3和H2一起进入冷凝器。受相平衡的限制,BCl3和PCl3也只有极少部分溶解在液相,大部分BCl3和PCl3将与HCl和H2一起进入气相。在活性炭吸附塔吸附HCl过程中,受吸附平衡的限制,超痕量的BCl3和PCl3很难在活性炭上吸附而最终进入H2体系。在SiHCl3氢还原过程中,随着H2的不断循环,BCl3和PCl3等杂质不断累积,最终影响多晶硅产品质量。
改良西门子法生产多晶硅的产品质量,不仅取决于两种原料SiHCl3和H2的纯度,而且也取决于还原和回收系统二次污染的程度。在正常生产、停车和非正常条件下,由于种种原因,系统会受到CH4、O2、H2O和N2的二次污染,同时也可能受到包括Fe、Ni和Cr等各种超痕量杂质的污染,这些微量和超痕量杂质将随循环氢气一起进入还原炉,从而对多晶硅产品纯度和质量产生危害的影响。
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