[发明专利]自动分析装置有效
| 申请号： | 201110204647.2 | 申请日： | 2008-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN102305868A | 公开（公告）日： | 2012-01-04 |
| 发明（设计）人： | 圷正志 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 钟晶;於毓桢 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 自动 分析 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种自动分析装置，其具备：分析样品的分析单元；将样品架传送至所述分析单元的支架传送装置，该样品架载放保持所述样品的样品容器；将样品架投入到该支架传送装置的支架投入口；将精度管理试样以设置于所述样品架的状态来保持在装置内的机构，
其特征在于，具备控制设备，其控制传送，以使得在识别到成为了规定时刻的时候，生成与保持在装置内的精度管理试样相应的规定的测定委托，分析所述精度管理试样。
2.根据权利要求1所述的自动分析装置，其中，所述规定时刻是日期改变的时刻。
3.根据权利要求1所述的自动分析装置，其中，所述规定时刻是装置的操作者改变的时刻。
4.根据权利要求1所述的自动分析装置，其中，所述规定时刻是以手动变更标准曲线的时刻。
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