[发明专利]一种用于CCD探测器制冷装置的温度控制系统

说明书

技术领域

本发明涉及CCD探测器技术领域，特别涉及一种用于CCD探测器制冷装置的温度控制系统。

背景技术

CCD(Charge-coupled Device)探测器技术是国际上DR(Digital Radiography，直接数字化X射线摄影系统)产品采用的主流技术之一，性能稳定且可靠。

但是，CCD芯片在常温工作情况下暗电流噪声和读出噪声都很大，从而对最终图像成像结果造成影响。特别是在X射线环境下，本身照度很低，对于图像信噪比，噪声的影响比可见光环境的影响更加恶劣。因此，需要利用制冷装置对CCD探测器进行制冷。现今，通常采用半导体制冷片对CCD探测器进行制冷。然而，对于不同地区的使用用户，室内温度差异很大，不同的室内温度会导致半导体制冷片的冷面的温度不同，影响半导体制冷片的制冷效果，制冷效率低。

发明内容

本发明的目的旨在至少解决上述技术缺陷之一，特别提出一种用于CCD探测器制冷装置的温度控制系统，该温度控制系统可以将CCD探测器制冷装置的冷面的温度控制在可控区间内的任一设定温度，提高了制冷装置的稳定性。

为达到上述目的，本发明的实施例提出一种用于CCD探测器制冷装置的温度控制系统，所述CCD探测器制冷装置包括直流电源和半导体制冷片，所述直流电源向所述半导体制冷片通入直流电以利用所述半导体制冷片的冷面对CCD探测器进行冷却，所述温度控制系统用于对所述半导体制冷片的冷面的温度进行控制，所述温度控制系统包括：温度传感器，所述温度传感器与所述半导体制冷片的冷面相连，用于实时地检测所述半导体制冷片的冷面的当前温度并输出温度指示信号；信号处理模块，所述信号处理模块与所述温度传感器相连，用于对所述温度指示信号进行放大，并将放大后的温度指示信号进行模拟-数字转换以得到温度指示数字信号；控制模块，所述控制模块与所述信号处理模块相连，用于根据所述温度指示数字信号读取所述半导体制冷片的冷面的当前温度，并将所述半导体制冷片的冷面的当前温度与目标温度进行分析以得到开关控制信号；执行机构，所述执行机构位于所述直流电源和所述半导体制冷片之间，且所述执行机构与所述控制模块相连，用于在所述开关控制信号的驱动下选择性地将所述直流电源输出的直流电输送至所述半导体制冷片以调节所述半导体制冷片的冷面的温度位于预设温度区间内，其中所述预设温度区间为起始温度比所述目标温度降低第一预设温度，所述预设温度区间的结束温度比所述目标温度升高所述第一预设温度。

根据本发明实施例的用于CCD探测器制冷装置的温度控制系统，可以通过控制电源向CCD探测器制冷装置的供电，实现对CCD探测器制冷装置的温度的调节，使得CCD探测器制冷装置的温度控制在可控区间内的任一设定温度，从而减小了室内温度对制冷装置的温度的影响，提高了制冷装置的稳定性。

本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1为根据本发明实施例的用于CCD探测器制冷装置的温度控制系统的结构示意图；

图2为温度传感器和信号处理模块的电路图；

图3为继电器的电路；和

图4为半导体制冷片的示意图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能解释为对本发明的限制。