[发明专利]一种IC料条三次光检机及其工作方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于检测IC料条上芯片的金线的设备及其光检方法，更准确地说， 涉及对尚未模封的料条上的芯片金线状况进行逐一抓拍检测并记录检测信息的一种IC料 条三次光检机。

背景技术

对芯片上金线的检测是芯片生产过程中的第三次检测，与第三次检测有关的机器设备 被称为三次光检机。对尚未模封的料条上芯片的金线检测的主要涉及金线缺失检测、金线 弯曲检测、多余金线检测、金线短路检测、金线断路检测和金线周围杂质检测等六项内容。 目前，主要依靠人眼观察检测和人工与显微镜结合的检测完成金线的这些检测内容。现有 的检测方法，不仅劳动强度大，工作效率低，检测的质量也因人而异，难于保证产品的检 测质量。

也有人曾试图用相机获取芯片金线实况信息与计算机内存储的标准金线模板信息相 对比的方法实现金线的自动检测，但苦于没有找到一种能让相机清楚、准确地获取金线各 种缺陷的光照系统和跟踪方法，检测的效率和质量与人工检测没有明显的优势。

发明内容

本发明的目的针对上述问题，提供一种可使相机清楚、准确地获取金线各种缺陷的三 次光检机。

本发明采用的技术方案为：一种IC料条三次光检机包括：

一料条输送系统，所述料条输送系统包括料条输送导轨，料条输送导轨的前侧导轨和 后侧导轨设置有彼此相对的用于供料条在长度方向上的两侧边嵌入的导轨槽；以及，

一光检系统，所述光检系统包括光照装置和带动光照装置在料条长度方向和宽度方向 上运动的跟踪移动装置；所述光照装置包括相机和位于相机下方的同轴光发生器，同轴光 发生器和相机的位置关系为：同轴光发生器入射至料条上的与相机的镜头同轴的光经料条 反射后再经同轴光发生器直接入射至镜头上。

本发明的另一个目的是提供一种上述光检机的工作方法。

本发明采用的技术方案为：其光检方法为：通过光检系统对静止于其光检区域的位于 料条输送导轨的导轨槽中的料条上的芯片进行抓拍检测，所述光检系统的相机和同轴光发 生器上下布置；在抓拍检测时，电控系统启动同轴光发生器，同轴光发生器入射至料条上 的与相机的镜头同轴的光经料条反射后再通过所述同轴光发生器入射至镜头中，电控系统 通过驱动相机和同轴光发生器在料条长度和宽度方向上同步运送，完成料条上所有芯片的 抓拍检测。

优选地，该工作方法中使料条进入料条输送导轨的导轨槽中的上料方法包括如下步骤：

步骤1a，上料箱移动装置将其夹持的上料箱移动至使上料箱中的一料条在其长度方 向上与所述导轨槽的进料口相对接的上料位置上，然后执行步骤1b；

步骤1b，摆动推料装置通过上料箱的左侧开口将上料箱内的所有料条沿其长度方向 一起从料箱的右侧开口向外推出预定距离，然后执行步骤1c；

步骤1c，作为进料夹手装置的料条夹手装置夹持住与导轨槽相对接的料条的从上料 箱的右侧开口向外露出的前端部分，并将夹持住的料条沿其长度方向拉入所述导轨槽中， 进料夹手装置在将夹持住的料条拉入光检区域后停止运动，使料条静止于导轨槽中。

优选地，在步骤1c中，在夹持住的料条的前端移动至安装在导轨槽进料口处的进料 口检测传感器的位置处时，进料夹手装置松开料条，由上料箱移动装置根据进料口检测传 感器检测到的料条与进料口在料条宽度方向上的偏差校正料条的位置，使料条处于可顺利 插入进料口的位置上；进料夹手装置在纠偏后重新夹紧料条，并将夹持住的料条沿其长度 方向拉入所述导轨槽中。

优选地，该工作方法中将光检完的料条装入料箱中的下料方法为：作为出料夹手装置 的料条夹手装置与光检完的料条的尾端相抵，并推动光检完的料条沿其长度方向向前运 动，直至光检完的料条完成进入下料箱的已在下料箱移动装置的带动下移动至与导轨槽的 出料口相对接的一插槽中为止。