[发明专利]测试系统以及测试方法

权利要求书

1.一种测试系统，该测试系统包括一待测电子设备与一测试环境稳定调节设备，该测试环境稳定调节设备用于为该待测电子设备提供一稳定的测试环境，其特征在于，该待测电子设备包括一第一处理单元与一第一通信单元，该第一处理单元通过该第一通信单元发送一控制信息至该测试环境稳定调节设备，以控制该测试环境稳定调节设备为该待测电子设备提供不同的稳定的测试环境。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，该待测电子设备还包括一测试单元，该测试单元用于测试该待测电子设备的性能，当该待测电子设备控制该环境稳定调节设备稳定测试环境后启动该测试单元开始测试。

3.根据权利要2所述的测试系统，其特征在于，该测试单元包括一第一测试单元，该第一测试单元用于测试该待测电子设备内部的性能，并且该第一测试单元用于测试该待测电子设备内部元件在工作过程中的温度数据。

4.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，该测试环境稳定调节设备包括一第二处理单元、一第二通信单元以及一执行单元，该第二通信单元用于接收该控制信息，并且将该控制信息输出至该第二处理单元，该第二处理单元依据该控制信息获取待测电子设备所需的测试环境并且控制该执行单元启动，为该待测电子设备提供所需的不同的测试环境，并且该测当该测试环境稳定后该第二处理单元输出一环境稳定信号至该待测电子设备。

5.根据权利要求4所述的测试系统，其特征在于，该测试环境稳定调节设备为一恒温箱，该恒温箱在该待测电子设备的控制下为该待测电子设备提供不同温度的测试环境。

6.一种测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

提供稳定测试环境步骤：待测电子设备控制测试环境稳定在第一测试环境；

测试步骤：启动该待测电子设备的性能测试并获得第一测试数据；

判断步骤：判断该待测电子设备是否需要改变测试环境，当该待测电子设备需要改变测试环境时，执行下一步骤，当该待测电子设备不需要改变测试环境时，继续执行提供稳定测试环境的步骤；

改变测试环境步骤：该待测电子设备控制该测试环境稳定设备稳定在第二测试环境；

测试步骤：启动该待测电子设备的性能测试并获得第二测试数据。

7.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，在该第一步骤与第四步骤中，该待测电子设备输出一控制信息至一测试环境稳定设备，以控制该测试环境稳定设备为该待测电子设备提供所需稳定的第一测试环境或者第二测试环境，该控制信息包括第一测试测试与第二测试环境的信息。

8.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，在该第一步骤与第四步骤之后，该测试环境稳定调节设备输出一环境稳定信号至该待测待电子设备，该待测电子设备启动性能测试。

9.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，该第一步骤以及第四步骤还包括一测试环境调节的步骤，采集该待测电子设备所处的测试环境的信息，将该测试环境信息与第一测试环境或者第二测试环境进行比较运算，并且依据比较结果控制测试环境稳定设备调节该电子设备所处的测试环境。

10.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，该第三步骤为对该待测电子设备处于第一测试环境的时间进行计时，当计时时间达到预定时间时，表明该待测电子设备需要改变测试环境；当该计时时间未达到该预定时间时，表明该待测电子设备不需要改变测试环境。