[发明专利]测试系统以及测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试系统以及测试方法，尤其涉及一种在稳定的测试环境对电子设备的性能进行测试的系统以及测试方法。

背景技术

一般的电子设备在制作完成之后均需要对其性能进行测试，为了保证测试的准确性，通常会使得电子设备在测试过程中所处的环境稳定，并且电子设备还需要在不同的稳定的测试环境中进行测试。然而，当需要改变测试环境时，均需要人为地对测试环境进行调节以及改变，而无法自动地依据待测试的电子设备的需求自动地更改其测试环境。

发明内容

有鉴于此，为解决现有技术中待测试的电子设备所处的测试环境无法自动地随着待测的电子设备需求进行改变，提供一种可以依据待测的电子设备的需求对其所处的测试环境自动进行改变的测试系统以及测试方法。

一种测试系统，该测试系统包括一待测电子设备与一测试环境稳定调节设备，该测试环境稳定调节设备用于为该待测电子设备提供一稳定的测试环境。该待测电子设备包括一第一处理单元与一第一通信单元，该第一处理单元通过该第一通信单元发送一控制信息至该测试环境稳定调节设备，以控制该测试环境稳定调节设备为该待测电子设备提供不同的稳定的测试环境。

一种测试方法，包括以下步骤：

提供稳定测试环境步骤：待测电子设备控制测试环境稳定在第一测试环境；

测试步骤：启动该待测电子设备的性能测试并获得第一测试数据；

判断步骤：判断该待测电子设备是否需要改变测试环境，当该待测电子设备需要改变测试环境时，执行下一步骤，当该待测电子设备不需要改变测试环境时，继续执行提供稳定测试环境的步骤；

改变测试环境步骤：该待测电子设备控制该测试环境稳定设备稳定在第二测试环境；

测试步骤：启动该待测电子设备的性能测试并获得第二测试数据。

相较于现有技术，该待测的电子设备依据其需求而对应地将其所需的测试环境的信息发送至一测试环境稳定调节设备，从而控制该测试环境稳定调节设备调节该待测的电子设备所处的测试环境。因此，在整个测试过程中，该待测电子设备可以自动地调节其所处的测试环境，而无需外界其他辅助，例如人为调节等。

附图说明

图1为本发明一实施方式中测试方法的流程图。

图2为本发明一实施方式中采用该测试方法的测试系统的测试示意图。

图3为本发明一实施方式中待测电子设备的结构示意图。

图4为本发明一实施方式中测试环境稳定调节设备的结构示意图。

主要元件符号说明

测试系统 10

待测电子设备　　　　　　　　　　　　100

测试环境稳定调节设备　　　　　　　　200

第一通信单元　　　　　　　　　　　　110

第一处理单元　　　　　　　　　　　　130

第一测试单元　　　　　　　　　　　　150

第二测试单元　　　　　　　　　　　　151

计时单元　　　　　　　　　　　　　　170

第二通信单元　　　　　　　　　　　　210

第二处理单元　　　　　　　　　　　　230

模数/数模转换单元　　　　　　　　　　220

测试环境检测单元　　　　　　　　　　240

执行单元　　　　　　　　　　　　　　250

编码/解码单元　　　　　　　　　　　　260

步骤　　　　　　　　　　　　　　　　S10~S50

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的较佳的实施方式进行详细描述。

请参阅图1，其为本发明一实施方式中测试方法的流程图。

需要首先说明的是，在电子设备在测试过程中为获得准确的测试数据，例如电子设备内部元件或者表面元件在工作过程中的温度变化、内部元件的运行情况等，其通常需要一个稳定的测试环境，例如温度、湿度、压力以及环境中固体颗粒的密度等参数均需要保持稳定。另外，电子设备的测试通常还需要在不同的测试环境下进行，进而使得测试数据更加准确。在本实施方式中，定义被测试的电子设备为待测电子设备，该待测电子设备可以是手机、音频/视频播放设备、电脑等，本实施方式该待测电子设备以手机为例进行说明，维持该待测电子设备所处的测试环境的设备为测试环境稳定调节设备。该测试方法以测试环境的温度为例进行说明，对应地，该测试环境稳定调节设备可以采用一恒温箱来实现。