[发明专利]数据可压缩的低功耗集成电路测试装置及其方法

权利要求书

1.一种数据可压缩的低功耗集成电路测试装置，其特征在于，包括：扫描森林、异或门网络、输出选择电路、第一控制寄存器和第二控制寄存器；其中，

所述扫描森林，包括多个扫描输入端和多个相互连接的扫描触发器组，所述扫描输入端连接第一个扫描触发器组中的所有扫描触发器，各扫描触发器组中的所有扫描触发器连接上一扫描触发器组中扫描触发器的输出端，所述多个扫描输入端对应多个扫描树，所述扫描树中的每个扫描触发器，与前一个扫描触发器的输出端连接，形成扫描链；

所述异或门网络中的每个异或门的输入端与所述扫描森林的最后一组扫描触发器组中的扫描触发器输出端相连；

所述输出选择电路连接所述异或门网络，用于选择每个时钟周期内需要观测的测试响应；

所述第一控制寄存器，用于控制时钟屏蔽信号；

所述第二控制寄存器，用于对所述输出选择电路进行控制。

2.如权利要求1所述的数据可压缩的低功耗集成电路测试装置，其特征在于，所述第一控制寄存器包括多个寄存器单元，每个时钟周期里，其中一个单元的值为1，其余单元的值为0。

3.如权利要求1所述的数据可压缩的低功耗集成电路测试装置，其特征在于，所述第二控制寄存器包括多个寄存器单元，每个时钟周期里，需要被观测的扫描树对应单元的值为1，其余单元的值为0。

4.如权利要求1所述的数据可压缩的低功耗集成电路测试装置，其特征在于，所述输出选择电路包括与门和或门。

5.如权利要求1所述的数据可压缩的低功耗集成电路测试装置，其特征在于，两个扫描链连接同一个异或门。

6.一种利用权利要求1-5中任一项所述装置对集成电路进行测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：

A：利用选择压缩方法对每一个测试向量进行编码；

B：生成和每一个测试向量对应的测试响应选择向量；

C：对每一个测试向量进行低功耗测试。

7.如权利要求6所述的对集成电路进行测试的方法，其特征在于，所述步骤A进一步包括：

A1：将所述测试向量分为长度等于n的段，对每一个子向量段用c＝[log₂(n+1)+2]位编码，其中2位是控制位，其余log₂(n+1)位是数据位；

A2：统计每一子向量段中所含0的个数a和1的个数b；

A3：若a＝1，使控制位为01，数据位表示0的位置；若a＝0，使控制位为01，数据位为log₂(n+1)个1；

若b＝1，使控制位为00，数据位表示1的位置；若b＝0，使控制位为00，数据位为log₂(n+1)个1；

若a＞1且b＞1，将所述测试向量被分得的长度为n的段分为长度小于c的段，每一段用c+2位表示，使控制位为11，数据位为对应的长度小于c的段的值。

8.如权利要求6所述的对集成电路进行测试的方法，其特征在于，所述步骤B进一步包括：

B1：对于测试向量能够检测到的每一个故障f，模拟找出故障能够传播到的输出集合list(f)＝(O₁，...，O_m)；

B2：对于每一个输出，找出它能够观测到的故障列表observe(O_i)＝{f₁，...，f_t}；

B3：对输出集合和故障集合进行初始化，使输出集合为所有能观测到故障的输出，故障集合为所有能被检测到的故障；

B4：从所述输出集合中选出能够观测最多故障的输出，从所述故障集合中删除该输出所观测到的故障，同时从输出集合中删除该输出；

B5：重复步骤B4，直至故障集合为空；

B6：将第二控制寄存器中与从输出集合删除的输出对应的单元置为1，生成测试响应选择向量。

9.如权利要求6所述的对集成电路进行测试的方法，其特征在于，所述步骤C进一步包括：

C1：对编码后的测试向量进行解码；

C2：将解码得到的测试向量输入n个扫描树中；

C3：i＝1；

C4：第i个扫描树捕获测试响应；

C5：根据测试响应选择向量移出每个扫描树的需要观测的测试响应，同时重新移入第i个扫描树对应的测试向量；

C6：i增加1，如果i＜＝n，重复C4和C5。