[发明专利]半导体封装件及其制法无效

专利信息
申请号: 201110220509.3 申请日: 2011-07-29
公开(公告)号: CN102891130A 公开(公告)日: 2013-01-23
发明(设计)人: 黄君安;黄品诚;邱启新;邱世冠 申请(专利权)人: 矽品精密工业股份有限公司
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H01L21/60
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 半导体 封装 及其 制法
【权利要求书】:

1.一种半导体封装件,其包括:

承载板,具有多个焊垫形成于其表面上;

封装层,形成于该承载板表面上,且具有多个对应各该焊垫的开孔;

导电材,填充于该开孔中,且电性连接该焊垫;以及

电子组件,设于该封装层上,且该电子组件具有多个导电凸块,其中,各该导电凸块对应容置于各该开孔中以电性连接该导电材。

2.根据权利要求1所述的半导体封装件,其特征在于,该承载板为封装基板或晶片。

3.根据权利要求1所述的半导体封装件,其特征在于,该承载板还具有形成于该焊垫上的金属凸块。

4.根据权利要求3所述的半导体封装件,其特征在于,该金属凸块为铜凸块。

5.根据权利要求3所述的半导体封装件,其特征在于,该承载板还具有形成于该焊垫与金属凸块之间的金属层。

6.根据权利要求1所述的半导体封装件,其特征在于,该承载板还具有形成于该焊垫上的金属层。

7.根据权利要求1所述的半导体封装件,其特征在于,该封装层为干膜。

8.根据权利要求1所述的半导体封装件,其特征在于,该封装层为感旋光性材质。

9.根据权利要求1所述的半导体封装件,其特征在于,该导电材为导电胶或锡膏。

10.根据权利要求9所述的半导体封装件,其特征在于中,该导电胶为铜胶或银胶。

11.根据权利要求1所述的半导体封装件,其特征在于,该导电凸块为铜凸块。

12.根据权利要求1所述的半导体封装件,其特征在于,该电子组件为晶片或芯片。

13.一种半导体封装件的制法,包括:

于表面具有多个焊垫的一承载板上形成封装层,且于该封装层上形成多个对应各该焊垫的开孔;

以导电材填充该开孔,且该导电材电性连接该焊垫;以及

将电子组件设于该封装层上,该电子组件的表面上具有多个导电凸块,且各该导电凸块对应容置于各该开孔中以电性连接该导电材。

14.根据权利要求13所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该承载板为封装基板或晶片。

15.根据权利要求13所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该承载板的焊垫上形成有金属凸块。

16.根据权利要求15所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该金属凸块为铜凸块。

17.根据权利要求15所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该焊垫与金属凸块之间形成有金属层。

18.根据权利要求13所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该焊垫上具有金属层。

19.根据权利要求13所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该封装层为干膜。

20.根据权利要求13所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该封装层为感旋光性材质。

21.根据权利要求13所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该导电材为导电胶或锡膏。

22.根据权利要求21所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该导电胶为铜胶或银胶。

23.根据权利要求13所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该导电凸块为铜凸块。

24.根据权利要求13所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该电子组件为晶片或芯片。

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