[发明专利]半导体封装件及其制法无效
申请号: | 201110220509.3 | 申请日: | 2011-07-29 |
公开(公告)号: | CN102891130A | 公开(公告)日: | 2013-01-23 |
发明(设计)人: | 黄君安;黄品诚;邱启新;邱世冠 | 申请(专利权)人: | 矽品精密工业股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/498 | 分类号: | H01L23/498;H01L21/60 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人: | 程伟;王锦阳 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 封装 及其 制法 | ||
1.一种半导体封装件,其包括:
承载板,具有多个焊垫形成于其表面上;
封装层,形成于该承载板表面上,且具有多个对应各该焊垫的开孔;
导电材,填充于该开孔中,且电性连接该焊垫;以及
电子组件,设于该封装层上,且该电子组件具有多个导电凸块,其中,各该导电凸块对应容置于各该开孔中以电性连接该导电材。
2.根据权利要求1所述的半导体封装件,其特征在于,该承载板为封装基板或晶片。
3.根据权利要求1所述的半导体封装件,其特征在于,该承载板还具有形成于该焊垫上的金属凸块。
4.根据权利要求3所述的半导体封装件,其特征在于,该金属凸块为铜凸块。
5.根据权利要求3所述的半导体封装件,其特征在于,该承载板还具有形成于该焊垫与金属凸块之间的金属层。
6.根据权利要求1所述的半导体封装件,其特征在于,该承载板还具有形成于该焊垫上的金属层。
7.根据权利要求1所述的半导体封装件,其特征在于,该封装层为干膜。
8.根据权利要求1所述的半导体封装件,其特征在于,该封装层为感旋光性材质。
9.根据权利要求1所述的半导体封装件,其特征在于,该导电材为导电胶或锡膏。
10.根据权利要求9所述的半导体封装件,其特征在于中,该导电胶为铜胶或银胶。
11.根据权利要求1所述的半导体封装件,其特征在于,该导电凸块为铜凸块。
12.根据权利要求1所述的半导体封装件,其特征在于,该电子组件为晶片或芯片。
13.一种半导体封装件的制法,包括:
于表面具有多个焊垫的一承载板上形成封装层,且于该封装层上形成多个对应各该焊垫的开孔;
以导电材填充该开孔,且该导电材电性连接该焊垫;以及
将电子组件设于该封装层上,该电子组件的表面上具有多个导电凸块,且各该导电凸块对应容置于各该开孔中以电性连接该导电材。
14.根据权利要求13所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该承载板为封装基板或晶片。
15.根据权利要求13所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该承载板的焊垫上形成有金属凸块。
16.根据权利要求15所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该金属凸块为铜凸块。
17.根据权利要求15所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该焊垫与金属凸块之间形成有金属层。
18.根据权利要求13所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该焊垫上具有金属层。
19.根据权利要求13所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该封装层为干膜。
20.根据权利要求13所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该封装层为感旋光性材质。
21.根据权利要求13所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该导电材为导电胶或锡膏。
22.根据权利要求21所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该导电胶为铜胶或银胶。
23.根据权利要求13所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该导电凸块为铜凸块。
24.根据权利要求13所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该电子组件为晶片或芯片。
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