[发明专利]一种电子产品平均无故障工作时间验证的实验方法

权利要求书

1.一种电子产品平均无故障工作时间验证的实验方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：

A、确定待验证的产品的平均无故障工作时间以及置信度；

B、综合估算产品在高温下的失效激活能；

C、设计产品的使用状态为试验运行状态；

D、在设定的高温下运行产品，依据产品的平均无故障工作时间、置信度、允许的失效数量以及高温状态对常温状态的加速倍率，设计一个加速寿命试验时间；

E、试验过程中监控其失效数量分布，并计算产品平均无故障工作时间区间范围。

2.根据权利要求1所述的一种电子产品平均无故障工作时间验证的实验方法，其特征在于：所述步骤B中估算产品在高温下的失效激活能的方法为：先统计电子产品的各个元件的失效激活能，再通过加权平均的方法计算电子产品整体的失效激活能。

3.根据权利要求1所述的一种电子产品平均无故障工作时间验证的实验方法，其特征在于：所述步骤E中的计算利用经验公式

AF＝exp{(Ea/k)*[(1/Tu)-(1/Ts)]}

式中，Ea是引起失效或退化过程的激活能，k是玻尔兹曼常数，T是绝对温度，Tu是常温状态温度，Ts加速状态温度。

4.根据权利要求3所述的一种电子产品平均无故障工作时间验证的实验方法，其特征在于：所述步骤E中借助卡方分布表来计算产品寿命区间范围。