[发明专利]一种电子产品平均无故障工作时间验证的实验方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种电子产品工作寿命的测试领域。

背景技术

电子产品失效原因与产品本身所选用的零部件有关。其从出厂经过贮存、运输、使用到失效的寿命周期，无时无刻不在进行着缓慢的化学物理变化。在各种外界环境下，产品还会承受了各种热、电、机械应力，会使原来的化学物理反应加速，而其中温度应力对失效最为敏感。目前业界对单个元器件的寿命验证试验做的很多，但对整机的寿命验证试验大部分是依据GJB899-1990《可靠性鉴定和验收试验》。但这些都是基于使用方风险，生产方风险，鉴别比等参数而设定的标准测试方案。这种方案主观性较强，所得到的参数意义不够明确，需要一种新的方法来测试电子产品的平均无故障工作时间。

发明内容

为了解决现有测试产品平均无故障工作时间的方法主观性强，测得数据意义不明确的问题，本发明提出以下技术方案：

一种电子产品平均无故障工作时间验证的实验方法，包括以下步骤：

A、确定待验证的产品的平均无故障工作时间以及置信度；

B、综合估算产品在高温下的失效激活能；

C、设计产品的使用状态为试验运行状态；

D、在设定的高温下运行产品，依据产品的平均无故障工作时间、置信度、允许的失效数量以及高温状态对常温状态的加速倍率，设计一个加速寿命试验时间；

E、试验过程中监控其失效数量分布，并计算产品平均无故障工作时间区间范围。

作为本发明的一种优选方案，所述步骤B中估算产品在高温下的失效激活能的方法为：先统计电子产品的各个元件的失效激活能，再通过加权平均的方法计算电子产品整体的失效激活能。

作为本发明的另一种优选方案，所述步骤E中的计算利用经验公式

AF＝exp{(Ea/k)*[(1/Tu)-(1/Ts)]}

式中，Ea是引起失效或退化过程的激活能，k是玻尔兹曼常数，T是绝对温度，Tu是常温状态温度，Ts加速状态温度。

作为本发明的再一种优选方案，所述步骤E中借助卡方分布表来计算产品寿命区间范围。

本发明带来的有益效果是：

1、本发明可以短时间对电子产品投入市场使用后的返修率进行一个比较可靠的评估；

2、本发明有利于在电子产品研发阶段，在相对较短的时间内暴露产品的缺陷，以此改进并不断提高电子产品整体的平均无故障工作时间；

3、本发明操作步骤方便，测试得到的数据精确，具有非常积极的效果，给企业带来了一定的经济效益。

具体实施方式

下面对本发明的较佳实施例进行详细阐述，以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。

本实施例产品为用于中小学教学的一体机电脑，共22台。

首先，确定该一体机的平均无故障工作时间为5840小时，置信度为0.9。

其次，估算产品在高温下的失效激活能，通过计算一体机主板的各个元件的失效激活能，再通过加权平均的方法计算出一体机整机的失效激活能为0.6eV。

再次，设定产品的试验运行状态，如表一：

表一 产品运行状态设定

然后，在50℃高温下运行产品，依据产品的平均无故障工作时间、置信度、允许的失效数量以及高温状态对常温状态的加速倍率，设计加速寿命试验时间为399.3小时，试验条件参数设置如表二：

表二 实验条件设置