[发明专利]发光二极管组件的温度测量系统有效
申请号: | 201110225170.6 | 申请日: | 2011-06-03 |
公开(公告)号: | CN102359829A | 公开(公告)日: | 2012-02-22 |
发明(设计)人: | S·杰克森;R·里克斯;B·佩尔顿;M·S·阿迈德;R·M·韦伯;M·E·莫斯托勒 | 申请(专利权)人: | 泰科电子公司 |
主分类号: | G01K7/00 | 分类号: | G01K7/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 王冉 |
地址: | 美国宾夕*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发光二极管 组件 温度 测量 系统 | ||
技术领域
在此描述和/或示出的主题通常涉及发光二极管(LEDs),更具体地, 涉及发光二极管的温度测量系统。
背景技术
发光二极管正在用于取代使用例如为白炽或荧光灯的其它类型的光源 的发光系统。发光二极管比灯更具有优势,例如快速接通,快速循环(通- 断-通)时间,长使用寿命,低功率损耗,窄发光带宽,以不需要滤色器提 供希望的颜色等。发光二极管是如今可用的最长持续时间的光源之一,例 如具有数万小时的使用寿命。但是,发光二极管在超出使用寿命后确实会 经历光输出逐渐减小的过程,通常被称为“光输出降低”。光输出降低可能由 于发光二极管的发光效率降低和/或发光二极管内部光程的光传输降低。
相对高的工作温度会不利地影响发光二极管的性能。例如,相对高的 工作温度会增加发光二极管的光输出降低率,缩短发光二极管的使用寿命, 和/或在使用寿命中的特定时间点降低发光二极管的光输出。因此,例如通 过使用散热片、风扇和/或类似的器件,对发光二极管进行散热以减小光输 出降低率是重要的。需要控制工作温度以防止不利地影响LED性能的特殊 区域是LED中的节点。特别地,发光二极管典型地包括在节点连接在一起 的P型和N型半导体。就增加LED的光输出降低率而言,在LED节点产 生的相对高的温度会是特别有问题的。
相应地,要解决的问题是需要监控LED的工作温度以确定是否从LED 排出足够多的热量,从而防止光输出降低的增长率。例如,需要监控LED 中P型和N型半导体的节点工作温度。
发明内容
解决方案是通过一种发光二极管(LED)组件的温度测量系统提供的, 该发光二极管组件包括具有在LED节点连接在一起的两个半导体的发光二 极管。该系统包括在远离LED节点的远端可操作地连接至LED组件的温度 传感器。温度传感器配置为在远端测量LED组件的温度。温度计算模块可 操作地连接至温度传感器,用于在远端从温度传感器接收测量的温度。温 度计算模块配置为基于远端的测量温度,确定LED节点的节点温度。
另外,本发明提供一种用于确定发光二极管(LED)组件的节点温度的 方法,该组件包括具有在LED节点连接在一起的两个半导体的发光二极管。 该方法包括使用温度传感器从LED组件的远离LED节点的远端测量温度, 在温度计算模块接收在LED组件的远端测量的温度,和使用温度计算模块, 基于远端的测量温度,确定LED组件的LED节点的节点温度。
附图说明
图1是示例性的发光二极管(LED)组件的局部分解透视图;
图2是图1所示的LED组件的示例性LED的透视图;
图3是图2所示的LED的一部分的示意图,其图示了LED节点的示例 性实施例;
图4是图1所示的用于LED组件的温度测量系统的示例性实施例的示 意图;
图5是温度测量系统的示例性可替换实施例的示意图;
图6是温度测量系统的另一个示例性可替换实施例的示意图;以及
图7是流程图,其图示了用于使用在此描述和/或图示的温度测量系统 确定图1所示的LED组件的节点温度的方法的示例性实施例。
具体实施方式
在一个实施例中,提供一种用于发光二极管(LED)组件的温度测量系 统,该组件包括具有在LED节点连接在一起的两个半导体的发光二极管。 该系统包括在远离LED节点的远端可操作地连接至LED组件的温度传感 器。温度传感器配置为在远端测量LED组件的温度。温度计算模块可操作 地连接至温度传感器,用于在远端从温度传感器接收测量的温度。温度计 算模块配置为基于远端的测量温度,确定LED节点的节点温度。
在另一个实施例中,提供一种确定发光二极管(LED)组件的节点温度 的方法,组件包括具有在LED节点连接在一起的两个半导体的发光二极管。 该方法包括使用温度传感器从LED组件的远离LED节点的远端测量温度, 在温度计算模块接收在LED组件的远端测量的温度,和使用温度计算模块, 基于远端的测量温度,确定LED组件的LED节点的节点温度。
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